无损检测仪器面阵探测器工业X射线CT系统技术-无损检测仪器标准网.docVIP

ICS19.100 N 78 中华人民共和国国家标准 GB/T XXXXX—XXXX 无损检测仪器 面阵探测器工业X射线CT系统技术要求 Non-destructive testing instruments Specifications of industrial X-ray computed tomography（CT） system based on area array detector 点击此处添加与国际标准一致性程度的标识 XXXX - XX - XX发布 XXXX - XX - XX实施 前言 本标准根据GB/T 1.1—2009给出的原则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机无损检测仪器分技术委员会(SAC/TC122/SC1)归口。 本标准起草单位： 本标准主要起草人： 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： 首次发布。 无损检测仪器 面阵探测器工业X射线CT系统技术要求 范围 本标准规定了面阵探测器工业X射线CT系统的术语和定义、特点、要求、测试等。 本标准适用于面阵探测器工业X射线CT系统。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 12604.11 无损检测 术语 X射线数字成像检测 GB/T 26593 无损检测仪器 工业用X射线CT装置性能测试方法 GB/T 26835 无损检测仪器 工业用X射线CT装置通用技术条件 术语和定义 GB/T 12604.11-2015界定的术语和定义适用于本文件。 缩略语 CT——计算机层析成像技术（Computed Tomography） MTF——调制传递函数（Modulation Transfer function） FOV——视场(Field Of View) CDF——对比度鉴别函数（Contrast Discrimination Function） 工作方式 面阵探测器工业X射线CT系统采用锥形束及标准扫描或大视野扫描方式，图1为标准扫描方式。 面阵探测器工业CT系统标准扫描方式示意图 面阵探测器工作模式分为3种：自由运行模式、内部触发模式以及外部触发模式，根据射线源的出束方式以及需要配合相应的机械运动，宜选择外部触发模式。 在外部触发模式下，机床在每次数据采集结束后都进行一定角度的旋转，直到完成物件的180°或360°旋转。 要求 空间分辨率 可根据实际情况选择。空间分辨率应优于2.0LP/mm。 密度分辨率 可根据实际情况进行选择。密度分辨率应小于0.8% 。 检测时间 扫描时间和重建时间应在产品文件中标明。 重建矩阵 应在产品文件中标明重建矩阵：512×512；1024×1024；2048×2048；4096×4096；或可自定义尺寸。 缺陷检测能力 缺陷检测能力应在产品文件中标明。 测试 空间分辨率 概述 面阵探测器CT系统空间分辨率包含横向分辨率和轴向分辨率。 横向分辨率测定方法通常采用推算调制传递函数（MTF）获得装置在不同调制度下的空间分辨力。轴向分辨率测定方法通常采用分辨成排圆孔大小法。 横向分辨率测定方法 边缘响应函数ERF的生成 对圆盘扫描获得圆盘CT图像；计算出圆盘CT图像的质心位置；以质心位置为圆心，在圆盘图像上选择一圆环区域，使圆盘的边缘图像包含在该圆环区域中；计算出圆环区域内所有像素点到质心的距离。 将圆环区域内像素按一定的距离单位归组，距离单位的大小根据图像矩形尺寸加以选择。同一个距离单位范围内像素为一组。 将圆环区域内每个组的像素点分别取平均像素值，得到组别与平均像素值的对应关系。建立距离和平均像素值之间关系表。从距圆心最近的1 端数据开始，按照表1中推荐的拟合点数（奇数），依次选取相应的点数组合。第2个组合中的第1个点应是第1个组合中的第2个点，以此类推可得到一组合系列。例如对于像素矩阵尺寸为512的情况，选取每个组合中包含21个点，（即21个距离和平均像素值关系），第11个点为中间点。对每个组合中点的平均像素值进行最小二乘法立方拟合，用拟合计算得到的中间点像素值替代原中间点的像素值，以此重复操作，计算出全部拟合后的像素值，得到拟合像素值和距离的关系。删除开始端和结束端的多余部分，根据距离和拟合像素值的关系得到边缘响应函数ERF（或ERF曲线）。 推荐适用的各项参数 单位：像素 图像矩阵尺寸 圆盘图像 方块最大尺寸 像素距离单位 拟合点数 256 235 12 0.100 11 512 470 24 0.050 21 1024 940 48