检测设备的型号和技术指标-清华同方光盘.ppt

档案光盘测试参数与测试设备 清华大学光盘国家工程研究中心 主要内容 一、档案光盘的测试原理及方案设计 二、CDR光盘测试参数 三、DVDR光盘测试参数 四、档案光盘测试设备 一、档案光盘的测试原理及方案设计 档案光盘的检测需求 档案光盘检测参数的设定依据 档案光盘检测仪的设计方案 二、CDR档案光盘测试参数 CDR 光盘解码系统 CDR 光盘误码率参数 CDR 档案光盘－主要测试参数 CDR 档案光盘－辅助测试参数 CDR 档案光盘－加速老化实验 三、DVDR档案光盘测试参数 DVDR 光盘解码系统 DVDR 光盘高频信号抖动－DC Jitter DVDR 档案光盘－主要测试参数 DVDR 档案光盘－辅助测试参数 DVDR 档案光盘－加速老化实验 三、档案光盘检测仪 档案光盘检测仪 档案光盘检测仪 档案光盘检测仪－快速测试 档案光盘检测仪－快速测试 档案光盘检测仪－全盘扫描 档案光盘检测仪－区域测试 档案光盘检测仪－其他测试功能 检测仪同时也具备非常丰富的检测功能，协助用户分析空白盘片质量的优劣。 1. 变倍速分区刻录 2. OPC测试 3. 功率扫描 4. TEFE测试 档案光盘检测仪－变倍速分区刻录 档案光盘检测仪－OPC测试 档案光盘检测仪－功率扫描 档案光盘检测仪－ TEFE测试 谢 谢 ！ * * 确保档案光盘的盘片质量 满足长期保存需要 预测保存期限 提高重要数据的可靠性 避免盘片访问时间过长 空白盘片：档案光盘由于其数据重要性，其生产工艺更为严格，出厂前需要对空白盘片经过严格的测试。 刻录后光盘：利用档案光盘检测仪进行检测，对于反应盘片质量最重要的参数（误码率、Jitter）进行严格把关。 根据检测结果，及分级预警门限，预测使用寿命，及时备份数据。 快速、便捷、低成本、高精度。 快速测试：对盘片进行多点测试，5分钟内给出检测结果。 完全测试：扫描整张盘片，给出整张盘片的检测报告。 区域测试：选择区域进行测试。 CD/刻录后的CDR 采用CIRC 2级解码纠错方式，在1级解码中不能纠正的错误，在2级解码中继续纠错。 误码率参数有：E11，E21，E31, E12, E22, E32。分别表明存在错误的不同严重性。 E11表示每秒测量中一级解码中出现的单个可纠正错误； E21表示每秒测量中一级解码中出现的两个可纠正错误； E31指每秒测量计数中出现一级解码中不可纠正的错误的数量。 E12：E12指出二级解码中出现的单个符号可纠正错误。 E22：E22指出二级解码中出现的两个符号可纠正错误。 E32：E32指出C2解码器中的不可纠正错误或盘中存在不可读数据。 根据错误的特征将误码率参数分为三类： 1、由于盘片自身工艺原因、刻录机的质量、刻录机盘片间的兼容性引起的错误：E11，E21，E31 2、由于盘片复制过程中引入的（染料、PC料、金属层）缺陷，以及保存过程中引入的划痕、灰尘、指纹等物理损伤等引起的错误：E21, E22 3、由于以上两种原因引起的盘片的不可纠正错误E32 主要测试参数： 块错误率BLER50；E32=0； BLER=E11+E21+E31，表示一级解码中出现的错误数。BLER要求严格是由于错误要求保持最少以便保证数据的完整性。 E32表示不可纠正错误，不能在盘中出现。 辅助测试参数： E11，E21，E31，E12，E22 E11，E21，E31通常由于盘片及刻录机的原因引起。其中E31在一级解码中不可纠正，所以通常会传递到二级解码中。 E12和E22通常表示突发错误，由于指纹、划痕等物理损坏引起。 档案光盘较长时间放置：光盘自身材料的老化、分解引起E11、E21的增加。而灰尘、划痕等物理损伤引起E12和E22的增加。 标准中并没有指出这些参数的规范，所以将这些参数作为辅助测试参数，通过监视这些参数，可以清晰的反应出错误来源。 其他辅助测试参数： 高频信号对称性beta， -0.10 ~ 0.15，表明了不同频率高频信号的调制幅度差异。 光盘温湿度老化试验 环境条件： 温度55℃ 相对湿度50% 放置96小时， 测试结果应符合： 块错误率 BLER 150，E32=0。 DVDR光盘包括DVD+R和DVD-R。DVDR使用里德-所罗门乘积码进行纠错。采用内码、外码奇偶校验的纠错方式。 误码参数有：PIE，PIF，POE，POF。 奇偶校验内码错误PIE： 1级解码(内码)中出现的错误。 奇偶校验内码失败PIF： 1级解码(内码)中错误修正失败。 奇偶校验外码错误POE：2级解码(外码)中出现的错误。 奇偶校验外