材料测试技术知识点解读.doc

1.产生X射线的条件： ①产生自由电子 ②使电子作定向高速运动 ③在其运动的路径上设置一个障碍物，使电子突然减速 X射线的性质：沿直线传播；经过电场或磁场不发生偏转；具有很强的穿透力；通过物质时可以被吸收使其强度衰减，还能杀伤生物细胞，具有波粒二象性。 连续X射线谱产生机理：当高速电子流轰击阳极表面时，电子运动突然受到阻击，产生极大的负加速度，一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时，电子周围的电磁场发生急剧的变化，必然要产生一个电磁波，该电磁波具有一定的波长，而数量极大的电子流射到阳极靶上时，由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同，因此产生的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。 特征X射线谱产生机理：当X射线管电压加大到某一临界值VK时高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K层电子给激发出来。于是在低能级上出现空位，原子系统能量升高，处于不稳定状态，随后高能级电子跃迁到K层空位，使原子系统能量降低重新趋于稳定，在这个过程中，原子系统内电子从高能级向低能级的这种跃迁，多余的能量将以光子的形式辐射出特征X射线。 请按波长由短到长的顺序对X射线，可见光，红外线，紫外线进行排练：X射线紫外线可见光红外线。 X射线本质上是一种 电磁波 。 波可以绕过障碍物继续传播，这种现象叫做波的 衍射 。 相对于波长而言，障碍物的尺寸 越大 ，衍射现象越不明显。 系统消光包括 点阵消光 和 结构消光 。 X射线衍射分析时，晶胞的形状和尺寸与衍射线的 分布规律 有关；原子的种类及其在晶胞中的位置与衍射线的 强度 有关。 X射线衍射分析时，衍射线的低角度线和高角度线中比较重要的是 低角度线 ，强线和弱线更重要的是 强线 。 在扫描电镜中，可以利用 会聚透镜 和 电磁透镜 两种透镜对电子进行会聚。 在波谱仪和能谱仪中，能同时测量所有元素的是 能谱仪 ，定量分析准确度高的是 波谱仪 。 扫描电镜的二次电子像和背散射电子像中，分辨率较高的是 二次电子像 ，形成原序数衬度的是 背散射电子像 。 点阵消光：由原子在晶胞中的位置不同而引起的某些方向上的衍射线的消光称为系统消光。 X射线与物质的相互作用以下几种：①被散射②被吸收③透过物质继续沿原来的方向传播。 布拉格方程： X射线的强度：指垂直于X射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。 衍射线的强度：指某一组面网衍射的X射线光量子的总数。 影响衍射线强度的因素：多重性因子，结构因子，角因子，温度因子，吸收因子。 X射线衍射的实验方法：粉末法，劳厄法，转晶法。 粉晶衍射仪法：利用Ｘ射线的电离效应和荧光效应，由辐射探测器来记录衍射线的方向和强度的一种方法。 测量衍射峰的２θ位置的方法： ①峰巅法：以峰的顶点位置 ②交点法：在衍射峰的两边各作切线，两切线的交点位置 ③弦中心法：以衍射峰的半高宽的中点或更好的是以峰的２/３高宽的中点及３/４高宽的中点。 ④中心线峰：按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推与衍射峰曲线相交的点 ⑤重心法：以背景线以上整个衍射峰面积之重心所在位置为２θ位置，重心记为＜２θ＞。 Ｘ射线物相分析包括：物相定性分析和物相定量分析。 Ｘ射线物相定性分析的步骤是： ①用一定的实验方法获得待测试样的衍射花样 ②计算并列出衍射花样中各衍射线的ｄ值和相应的相对强度Ｉ ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 定性物相鉴定过程应注意的问题： ①ｄ的数据比Ｉ／Ｉ１数据重要 ②低角度线的数据比高角度线的数据重要 ③应重视特征线 ④在做定性分析中，了解待测试样的来源，化学成分，物理性质，以及用化学或物理方法对 试样进行预处理，并借助于平衡相图，都有助于正确快速的分析鉴定 ⑤不要过于相信卡片上的数据，特别是早年的资料，注意资料的可靠性 ⑥Ｘ射线衍射分析只能肯定某相得存在，而不能确定某相的不存在 Ｘ射线衍射分析可以反映出材料微观中晶胞的大小，形状，原子种类及他们在晶体中的坐标位置等信息。 Ｘ射线衍射分析在无机材料的应用：原料的分析，主要结晶相的鉴定，类质同象系列成分的测定，利用平衡相图帮助鉴定多相。 电子显微分析的方法：透射电镜，扫描电镜，电子探针 显微镜的分辨率：，分辨率与波长成正比，与数值孔径成反比，光源为电子束。 电子透镜的像差缺陷：①色差：由电子的波长或能量非单一性所引起的②球差：是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的③像散：由透镜磁场非旋转对称引起的。 像散对透镜分辨率的影响，可以用机械，静电或电磁式消像散器适当的加以补偿矫正。 色差是由于成像电子波长（或能量）变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差，应尽可能减小样品的厚度以利于提高分辨率。 球差对分辨率的影响最为重要，因为没有一种简便方法能使其矫正过来。 景深：把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的