实验一_逻辑门功能测试及其应用研究概要.ppt

实验一 逻辑门功能测试及其应用研究 一、实验目的 1、学习掌握TTL集成与非门的逻辑功能及主要参数测试方法； 2、学习掌握三态门逻辑功能，了解“总线”结构的工作原理。 二、实验原理 （1）传输特性 示波器扫描 在输入端输入不同直流电压，用直流电压表逐点测量输出电压值 （2）输入和输出的高、低电压 规定在正逻辑体制中，用逻辑1与0分别表示高、低电平 高、低电压是高、低电平以V为单位的量化表示 74LS00输入和输出的高、低电压可由电压传输特性得出 2、三态门TSL（Three-state Logic） TTL与非门的推拉式输出电路结构局限性： 输出端不能并联使用：损坏器件；输出电平逻辑混乱。 电源一经确定，输出高电平固定。 不能驱动较大电流、较高电压的负载。 （2）问题的解决—三态门 三态与非门 三态与非门的功能 (3)三态门的应用 总线结构的分时复用 任何时候，要求只有一个控制门的EN为有效电平 数据的双向传输 三、实验器材 3.函数发生器 3.万用表 3.双踪示波器 4.实验芯片 四、实验内容 1、TTL与非门逻辑功能的测试 TTL与非门电压传输特性的测试。 要求： 自己设计电路，测试TTL的电压传输特性，画出电压传输特性的曲线。 测量数据 2、用三态门实现三路信号分时传送的总线结构。框图如图2-1-8所示，功能如表2-1-3所示。 要求： 静态验证 控制输入和数据输入端加高、低电平，用电压表测量输出高电平、低电平的电压值。 动态验证 控制输入加高、低电平，数据输入加连续矩形脉冲，用示波器对应地观察数据输入波形和输出波形。 动态验证时，分别用示波器中的AC耦合与DC耦合，测定输出波形的幅值Vp-p及高、低电平值。 实验中注意任一时刻只能有一个三态门处于使能状态。 五、仪器与器材 （1）双踪示波器 YB4320型 1台 （2）函数发生器 YB1638型 1台 （3）电路与数字实验箱 YB3262型 1台 （4）直流稳压电源 DF1701S型 1台 （5）万用表 MF78型 1台 （5）主要器材 74LS00 1片 74LS04 1片 74LS244 2片 电阻 500Ω和10kΩ各一只 * 南通大学电工电子实验中心　　　　　　　　　《数字电子技术实验》课程　　　 下翻 上翻 退出 实验目的 实验原理 设计举例 实验内容 仪器与器材 返回 1、TTL集成逻辑门电路主要技术参数测试 采用TTL门电路中的六反相器74LS04 传输特性 输入和输出的高、低电压 此处讨论： （1）问题的提出 （a）使能控制端高电平有效 （b）使能控制端低电平有效 使能端高电平有效 EN=1时，正常工作状态 EN=0时，禁止工作状态 Y输出呈高阻态 时，正常工作状态 时，禁止工作状态 Y输出呈高阻状态 使能端低电平有效 返回 1.数电实验箱 返回 74LS04引脚图 Vo/V 5 4 3 2.5 2 1.5 1.2 1 0.9 0.8 0.5 0.2 0 Vi/V D1 D2 D3 1 0 0 0 1 0 0 0 1 输出 Y 控制输入 C1 C2 C3 · Y 数据输入 控制输入 D1 D2 D3 C1 C3 C2 待设计电路 图2-1-8 表2-1-3 返回 返回 * 南通大学电工电子实验中心　　　　　　　　　《数字电子技术实验》课程　　　 下翻 上翻 退出