第八章 原子吸收光谱法 第五节 第六节讲解.ppt

第八章原子吸收光谱法 一、物理干扰及消除 二、化学干扰及消除 2.化学干扰的消除 三、电离干扰及消除 电离干扰是指待测元素在形成自由原子后进一步失去电子，从而使基态原子数减少，测定结果和灵敏度降低的现象。电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重（如碱及碱土金属元素）。 四、光谱干扰及抑制 背景吸收及消除（校正方法） （3）塞曼(Zeeman)效应背景校正法 第八章原子吸收光谱法 测定方法： 一、直接原子吸收分析 指试样经适当前处理后，直接测定其中的待测元素。金属元素和少量非金属元素可直接测定。 如，含量较高的钾、钠、钙、镁、铜、锌、铁、锰等元素可直接用火焰原子化法测定；含量低的元素需萃取富集后用火焰原子化法测定或直接使用石墨炉原子化法测定；硒、砷、锑等宜选用氢化物发生法测定；汞宜用冷原子法测定。 二、间接原子吸收法 指待测元素本身不能或不容易直接用原子吸收光谱法测定，而利用它与第二种元素或化合物发生反应，再测定产物或过量的反应物中第二种元素的含量，依据反应方程式即可计算出试样中待测元素的含量。大部分非金属元素通常需采用间接法测定。 如试样中的氯与过量硝酸银反应，再测定上层清液中银离子的量，即可得到氯的含量；也可利用硫酸根与钡离子的反应间接测定硫酸根的含量。 * 一、物理干扰及消除 二、化学干扰及消除 三、电离干扰及消除 四、光谱干扰及消除 第五节 干扰及消除方法 试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应。 如在火焰原子吸收光谱中，试样粘度和雾化气体压力的变化直接影响试样的提升量和基态原子的浓度；表面张力影响气溶胶雾滴的大小；溶剂的蒸汽压不同影响溶剂的挥发和冷凝；大量基体元素对待测元素蒸发的影响等等。 措施：可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应，主要影响到待测元素的原子化效率，是原子吸收光谱分析法主要干扰源。 主要表现在： 待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来消除或减少化学干扰： （1）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。 例：锶和镧与磷酸根反应，可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （2）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。 例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 （3）饱和剂—加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N2O-C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mg·L-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 措施：加入大量更易电离的一种缓冲剂以抑制待 测元素的电离（或者叫消电离剂；高温、 电离电位低时易发生）。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。 待测元素的共振线与干扰谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线 （如镍 232.0nm附近有231.6nm吸收线干扰）。 措施：可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 (Cd 228.80nm；As 228.81nm)。 措施：换用纯度较高的单元素灯以减小干扰 3.背景吸收 特殊的光谱干扰 背景吸收干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和光散射干扰。干扰严重时，不能进行测定。 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收，如气体分子、难解离盐类、难熔氧化物和氢氧化物等对待测元素的特征谱线产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰（CaOH 530nm-560nm)。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重。 如何消除？ (2) 氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰； 连续光谱通过时，测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)； 共振线通过时，测定总 吸收； 差值为有效吸收；但只在 氘灯辐射较强的190-350nm可