生产工艺对通讯线电性能的影响概要.ppt

生产工艺对通讯线电性能的影响 通讯线是作为传输通信信号用的线材﹐因此多数有电气性能要求﹐包括﹕阻抗﹑衰减﹑串音衰减(近端和远端等)﹑回波损耗﹑延时﹑对内延时差﹑对间延时差等性能。下面就生产中常接触的一些电气性能做简要介绍﹐并简要列出工艺条件与这些性能之间的关系﹐供生产线人员参考﹐生产过程中通过调整各工序的工艺参数﹐使产品性能达到更佳。 一﹑同轴线 1﹑特性阻抗 电磁波延均匀电缆线路传播而没有反射时所遇到的阻抗。 阻抗﹕Z0=60/(√ε)㏑(D/d*Ks) Z0—阻抗﹔ε—介电常数﹔D—绝缘线径﹔d—导体线径﹔Ks—绞合系数 影响阻抗的因素﹕介电常数﹔绝缘线径﹔导体线径。 1)介电常数是材料本身固有的﹐不同的材料具有不同的介电常数。可通过发泡度的大小来改变介电常数的大小﹐即发泡度增大—介电常数减小—阻抗增大﹔发泡度减小—介电常数增大—阻抗减小。发泡度不均匀—介电常数不均匀—阻抗不均匀。 2)绝缘线径﹕绝缘线径增大—阻抗增大﹔绝缘线径减小—阻抗减小。绝缘线径不均匀—阻抗不均匀。 3)导体线径: 导体线径增大—阻抗减小﹔导体线径减小—阻抗增大。导体线径不均匀—阻抗不均匀。 2﹑衰减 衰减是重要参数之一﹐它反映了电磁能量沿电缆传输时的损耗的大小。电缆的衰减越大﹐信号的损耗越严重﹐传输效率越差。衰减由导体衰减和介质衰减两部分组成﹐它们都与频率有关。导体的损耗随频率的平方根增加﹐介质的损耗与频率成正比。频率低时导体影响大﹐频率越高介质对衰减的作用越大﹐高频时约各占50%。导体是影响衰减的主要因素。 α=(0.4343/Z0*D)(D/d*Ks+Fbd)√F+2.78*df*F*√ε Fbd—编织系数=(8D+16ds)/(C*N*ds) ds—编织导体直径﹔C—编织锭子数﹔N—每锭根数。 F—频率﹔df—介质损耗系数 影响衰减的因素﹕阻抗﹑绝缘线径﹑导体直径﹑编织锭子数﹑每锭根数。 1)阻抗增大—衰减减小﹔ 2)绝缘线径增大—阻抗增大—衰减减小﹔ 3)导体直径增大—衰减减小﹔ 4)发泡度增加—介电常数减小—衰减减小﹔ 5)?外导体变化的影响 a)编织密度增加—衰减减小﹔ b)编织+铝箔结构—衰减减小﹔ c)铝箔厚度增加—衰减减小﹔ 3﹑回波损耗 回波主要是由于线路中阻抗的变化而产生。电缆制做工艺及电缆结构的不稳定均可产生回波。 影响回波损耗的因素﹕导体的均匀性﹑绝缘的均匀性﹑发泡度的均匀性﹑结构尺寸的均匀性。 1)导体直径不均匀﹑导体有弯﹑导体不圆—回波﹔ 2)绝缘芯线偏心﹑椭圆﹑线径不均匀—回波﹔ 3)发泡度不均匀—回波﹔ 4)编织与外被的松紧也可引起回波的产生﹔ 4﹑延时﹕信号从发射机传播到接受机所用的时间。 Td=1.016√ε 影响延时的因素﹕介电常数即延时是由不同的绝缘材料决定的﹔发泡度。 1)不同材料的介电常数如下 PE:2.3; 发泡PE:1.29~1.64; PVC:3~8; PP:2.2; FEP:2.1; 2) 发泡度增加—介电常数减小—延时减小。 二﹑对绞线 1﹑阻抗 Z0=(462㏒(1.3D/d*Ks))/ √ε ε—介电常数﹔D—绝缘线径﹔d—导体线径﹔Ks—绞合系数 影响阻抗的因素﹕介电常数﹔绝缘线径﹔导体线径﹔对绞节距﹔绕包松紧(对屏蔽)﹔成缆节距﹔成缆包带松紧﹔编织的松紧﹔外被的松紧。 1) 发泡度:发泡度增大—介电常数减小—阻抗增大﹔发泡度减小—介电常数增大—阻抗减小。发泡度不均匀—介电常数不均匀—阻抗不均匀。 2)绝缘线径﹕绝缘线径增大—阻抗增大﹔绝缘线径减小—阻抗减小。绝缘线径不均匀—阻抗不均匀。 3)导体线径: 导体线径增大—阻抗减小﹔导体线径减小—阻抗增大。 4)???? 对绞节距﹕ A)非屏蔽线对﹕对绞节距加大—阻抗增大﹔对绞节距减小—阻抗减小﹔ B)屏蔽线对﹕ 1)绕包﹕对绞节距减小—阻抗增大﹔对绞节距增大—阻抗减小﹔绕包方向与对绞方向相反—阻抗大﹔绕包方向与对绞方向相同—阻抗小﹔ 2)拖包﹕对绞节距减小—阻抗减小﹔对绞节距增大—阻抗增大﹔ 5)绕包﹕绕包张力小—铝箔松—阻抗大﹔绕包张力大—铝箔紧—阻抗小。 6)成缆节距(非对屏蔽)﹕成缆节距增大—阻抗增大﹔成缆节距减小—阻抗减小。 7)成缆包带(非对屏蔽) ﹕成缆包带松—阻抗增大﹔成缆包带紧—阻抗减小。 8)编织的松紧(非对屏蔽) ﹕编织紧—阻抗减小﹔编织松—阻抗增大。 9)外被的松紧(非对屏蔽) ﹕外被松—阻抗大﹔外被紧—阻抗小。 2﹑衰减 影响衰减的因素﹕导体﹑绝缘介质﹑绝缘线径﹑频率﹑对绞节距﹑对屏蔽松紧﹑对屏蔽厚度﹑成缆节距﹑总屏蔽﹑总屏蔽厚度﹑对内延时差。 1)导体 导体线径大—衰减小﹔导体线径小—衰减大﹔ 导体绞合节距增大—衰减减小﹔导体绞合节距减小—衰减增大﹔ 导体