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光電量測技術學期報告
姓名:曾偉傑
學號 老師:朱志良
摘要
AOI為自動光學檢測;AOI設備被定義為完全自動化的光學系統,依技術可分為1-D(一維條碼檢測、位移檢測)、2-D (圖像識別、瑕疵分類、二維條碼檢測、形狀量測、熱影像檢測、色澤檢測)及3-D(形狀量測、高度瑕疵檢測)三種,AOI技術應用非常廣泛,包括工業生產 品質檢測、宇宙探測、生物醫學成像檢測、軍警指紋比對及字形辨認、機械視覺、多媒體技術應用等。
自動光學檢查(Automated Optical Inspection,簡稱AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點
自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法,利用光學儀器取得成品的表面狀態,再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵,因為是非接觸式檢查,所以可在中間工程檢查半成品。高精度光學影像檢測系統,包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術 應用等領域,其開發應用不但符合高科技產業發展需求,其技術層面更可擴展至國防軍事工業,舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等,都與此影像技術息息相關。
AOI是近幾年才興起的一種新型測試技術,但發展較為迅速,目前很多廠家都推出了AOI自動化測試設備。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,採集圖像,測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,並通過顯示器或自動標誌把缺陷顯示標示出來,供維修人員修整。
實施目標
有以下兩類主要的目標:
最終品質(End quality)對產品走下生產線時的最終狀態進行監控。當生產問題非常清楚、產品混合度高、數量和速度為關鍵因素的時候,優先採用這個目標。 AOI通常放置在生產線最末端。在這個位置,設備可以產生範圍廣泛的過程控制信息。
過程跟踪(Process tracking)使用檢查設備來監視生產過程。典型地包括詳細的缺陷分類和元件貼放偏移信息。當產品可靠性很重要、低混合度的大批量製造、和元件供應 穩定時,製造商優先採用這個目標。這經常要求把檢查設備放置到生產線上的幾個位置,在線地監控具體生產狀況,並為生產工藝的調整提供必要的依據。
放置位置
雖然AOI可用於生產線上的多個位置,各個位置可檢測特殊缺陷,但AOI檢查設備應放到一個可以儘早識別和改正最多缺陷的位置。
自動化有三個檢查位置是主要的:
錫膏印刷之後。如果錫膏印刷過程滿足要求,那麼ICT發現的缺陷數量可大幅度的減少。
典型的印刷缺陷包括以下幾點:
焊盤上焊錫不足。
焊盤上焊錫過多。
焊錫對焊盤的重合不良。
焊盤之間的焊錫橋。
在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴重性成比例。輕微的少錫很少導致缺陷,而嚴重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。儘管如此,決定哪裡放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發生的,這些原因必須放在檢查計劃內。這個位置的檢查最直接地支持過程跟踪和特徵化。這個階段的定量過程控制數據包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關印刷焊錫的定性信息也會產生。
回流焊前。檢查是在元件貼放在板上錫膏內之後和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型地放置檢查機器的位置,因為這裡可發現來自錫膏印刷以及機器貼放 的大多數缺陷。在這個位置產生的定量的過程控制信息,提供高速片機和密間距元件貼裝設備校準的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準。這 個位置的檢查滿足過程跟踪的目標。
回流焊後。在SMT工藝過程的最後步驟進行檢查,這是目前AOI最流行的選擇,因為這個位置可發現全部的裝配錯誤。回流焊後檢查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。
基本架構
自動光學檢測設備組成部位:
光學部分:
CCD Camera(檢測鏡頭)
光源(上下光源打光)
Review Camera(複檢確認鏡頭)
系統主機部分(由PC與週邊組成):
CIM系統主機
系統主機螢幕
瑕疵檢查主機
瑕疵檢查主機螢幕
網路連結
集線器(Hub)
Network乙太網路、CC-Link
動力控制部分
伺服驅動機構
可程式邏輯控制器(PLC)或PC Base控制主機
CCD自動光學鏡頭處理檢測物件
應用
AOI技術領域非常廣泛,廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體,應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。
狹義的AOI則指目前大量
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