X熒光熔片法分析萤石中氟化钙二氧化硅氧化铝.doc

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X熒光熔片法分析萤石中氟化钙二氧化硅氧化铝

X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝、全铁的含量 李韶梅 ,杜彩霞, 张慧娟 (河北钢铁集团邯钢技术中心,邯郸,056015) 摘要:应用熔融法制样,X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝、全铁含量。根据试样的不同,分别采用两种制样方法,腐蚀铂金坩埚的试样采用四硼酸锂熔融挂壁制成熔剂坩埚,用硝酸钾和碳酸锂低温预氧化试样再熔融,从而防止还原性物质对坩埚的腐蚀;不腐蚀铂金坩埚的试样直接高温熔融。采用了国家标准样品及人工配制标准样品制作校准工作曲线。测得值的相对标准偏差在0.07%-0.49%,测定结果与化学法测定值相符,能满足生产的要求。 关键词:X射线荧光光谱法;萤石;熔融法;氟化钙;二氧化硅;氧化铝;全铁 萤石是一种重要的非金属矿物原料,在钢铁工业中大量用于炼铁、炼钢的熔剂,降低冶炼温度和炉渣粘度。因此,准确测定萤石中主次元素的含量,对生产具有一定的指导意义。对萤石的分析方法多为化学湿法,步骤繁琐,分析时间长。应用X射线荧光光谱法分析萤石也有报道[1-2],但采用粉末压片法,存在粒度和基体效应;或用熔片法,通过测定氟谱线强度来测定氟化钙,氟是轻元素,谱线弱,强度低 ,且熔样过程氟有损失,结果准确度不能满足生产要求。在应用X射线荧光熔片光谱熔片法检测过程中,发现萤石试样有时会含有还原性物质,腐蚀铂金坩埚,只好改为化学法检测。本工作对萤石试样熔融制成玻璃片后,应用X射线荧光光谱法测定总钙和二氧化硅、氧化铝、全铁含量。同时仪器会自动通过预先设置的程序,计算输出氟化钙的含量。 1 试验部分 1.1 主要仪器与试剂 ZSXPrimusⅡ型X荧光光谱仪;RYL-05型自动熔样炉;试剂均为分析纯; 碘化铵溶液,300 g/L;溴化锂溶液,150 g/L。 ————————————————————————————————— 收稿日期:2010.09,修订日期:2011.07。作者简介:李韶梅(1969-),女,河北邯郸,高级工程师,主要从事冶金分析工作。 1.2 仪器工作条件 表1 仪器测量条件 Table 1 Measurement conditions of instrument 成分 分析谱线 管压Kv 管流mA 探测器 晶体 峰位 2θ,。 脉冲高度分析器 时间S SiO2 SiKα 50 50 PC 异戊四醇 109.01 107-312 20 TCa CaKα 50 50 PC LiF200 113.06 118-292 20 TFe FeKα 50 50 SC LiF200 57.50 86-330 20 Al2O3 AlKα 50 50 PC 异戊四醇 144.78 103-304 20 1.3 试验方法 1.3.1试验方法,对于不腐蚀铂金坩埚的试样:称取粒径小于0.125 mm的萤石试样1.0000 g,硝酸钾0.2000 g,碳酸锂1.0000 g,无水四硼酸锂5.0000 g于干净的铂金坩埚中,搅拌均匀。加入150 g/L溴化锂溶液 3滴,在预先升温到1050℃的电热熔样炉中熔融20 min,取出,待样片冷却到室温后,在选定仪器工作条件下测定。 1.3.2试验方法,对于腐蚀铂金坩埚的试样:称取无水四硼酸锂5.0000 g于干净的铂金坩埚中,滴加300 g/L 碘化铵溶液2滴,然后放入1000℃箱式电阻炉中,熔融5 min左右,取出,趁热,慢慢旋转坩埚,使熔融状态四硼酸锂均匀挂在坩埚壁的下部和底部,形成一个熔剂坩埚。 称取粒径小于0.125 mm的萤石试样1.0000 g,硝酸钾0.2000 g和碳酸锂1.0000 g置于上述熔剂坩埚混匀,然后放入575℃箱式电阻炉中,设氧化程序为:575℃保持8 min。升温至630℃,保持5 min 。再升温至750℃保持5 min。按启动/暂停键,进行氧化处理。程序完成后,取出,冷却后,加入150 g/L溴化锂溶液 3滴,在预先升温到1050℃的电热熔样炉中熔融20 min,取出,待样片冷却到室温后,在选定仪器工作条件下测定。 2. 结果与讨论 2.1 熔剂的选择 有些萤石试样腐蚀坩埚,将试样氧化后,再熔融,可解决此问题。先将熔剂熔融挂壁,制成熔剂坩埚,在低温氧化时熔剂坩埚不熔化,可以保护坩埚。考察了两种熔剂,选择熔点(930℃左右)较高的四硼酸锂作为熔剂,制成的熔剂坩埚,在氧化过程中没有熔融,能够起到保护坩埚的作用;而用四硼酸锂和偏硼酸锂(67:33)混合溶剂作为熔剂,制成的熔剂坩埚,在约700℃即熔化掉,不能保护坩埚。试验证明选用四硼酸锂作为熔剂,制作熔剂坩埚,效果很好。 2.2 氧化剂的选择 常用的氧化剂 硝酸钾熔点为334℃,400℃时分解并放出氧气。氧化剂碳酸锂600℃以下对热稳定,618℃开始部分分解成氧化锂和二氧化碳。经试验,单一

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