相变存储器材料研究综述.doc

相变存储器材料研究 1相变存储器介绍 相变存储器（PCM）是一种非易失存储设备，它利用材料的可逆转的相变来存储信息。相变存储器有高读写速度、寿命长，存储稳定工艺简单，潜力大 图1 相变存储器的工作原理 3 GST材料相变机理 作为相变存储器的存储介质, 相变材料性能的优劣直接关系到器件性能。相变存储器中最为核心的是以硫系化合物为基础的相变材料。其中Ge2Sb2Te5(GST) 相变材料是到目前为止使用和研究最广泛的相变材料, 并已经实现了产品应用。虽然工业界已经将GST作为相变存储器的存储介质实现了产品和应用, 但是对于GST为何在纳秒甚至皮秒量级的时间内实现非晶态和晶态的可逆相变仍然未有统一的结论。 主要原因是非晶态GST中原子排列是无序的,传统晶体学的理论和结构研究方法已不适用,因而对GST的非晶态很难获得一个清晰的认识, 更不能得到可逆相变过程中微观结构的变化。为了揭示GST等相变材料的相变机理, 近年来世界各地的科学家结合先进的高分辨电子显微分析表征手段和理论模拟计算进行了大量深入的研究, 提出了一系列相变机理及理论模型, 其中著名的理论有Ge原子伞状跳跃理论、多元环理论、共振键理论等。 (1)Ge原子伞状跳跃理论。原子伞状跳跃理论是Kolobov等人通过对GST材料的扩展X射线吸收精细结构谱的实验结果进行分析总结出来的, 是相对较早的一种针对GST材料快速相变机理的解释。。通过对EXAFS实验结果的研究, 发现在GST晶体结构中, Ge原子处于以Te原子构成的八面体的中心位置, 其与Te原子相连接的6个键分为3个强键和3个弱键, 在非晶化过程中, 弱键更容易被打断, 同时在强键的拉动作用下, Ge原子进入以Te原子构成的四面体中心位置。 Ge原子伞状跳跃理论认为GST材料的无序化过程不需要经历熔化-淬火过程, 只是通过Ge原子在八面体结构和四面体结构间的来回跳跃, 就可以实现,非晶化和晶化的可逆相变过程, 原子伞状跳跃理论较好地解释了GST材料的快速相变和低功耗特性。 (2)共振键理论。 Lencer等人、Anbarasu等人和Shportko等人为了解释相变材料在相变前后的巨大差异,提出了一种共振键理论。他们通过测量非相变材料AgInTe2和相变材料Ge1Sb2Te4的红外反射谱, 发现非相变材料AgInTe2在结晶前后的红外反射谱几乎相同,而晶态Ge1Sb2Te4的红外反射谱在反射强度、极值以及极值间隔等都比非晶态的小。在测量介电常数后发现相变材料结晶后光学介电常数降低了50%–70%, 表明相变材料在结晶前后原子极化形式发生了很大变化。这种差异是由于非晶态和晶态相变材料中原子的不同成键形式导致的,非晶态中各原子以共价键的形式结合,电子局域化程度高,结合力强；晶态中各原子以共振键的形式结合,单一、半满的p轨道电子同时在左右两侧形成两个不饱和共振键。正是由于相变材料在非晶态和晶态时成键形式的不同, 使相变材料在相变前后的介电常数变化很大, 从而导致其在相变前后性能发生巨大变化。 (3)多元环理论。原子伞状跳跃理论是基于X射线精细结构谱的实验结果得到的, 从微观上阐明GST材料在相变过程中不发生大规模的原子迁移,只发生部分原子的局部移动。2006年,Kohara等人结合逆蒙特卡洛分析和高能同步辐射X射线衍射实验结果在更大尺度上提出了多元环理论。非晶态GST材料中存在许多偶元环,在结晶过程中,通过原子的小范围调整,含较多原子的偶元环(8元环、10元环)通过原子成键变成4元环和6元环,形成晶态GST。但是对于GeTe材料, 由于Ge—Ge同质键的存在,其非晶态中除了偶元环外还有很多奇元环。GeTe晶态主要由4元环构成,没有空位, GeTe的结晶过程除了原子位置的调整,还需要大量的断键过程。多元环理论很好地解释了GST在快速相变过程中空位所起的作用以及GeTe比GST相变速度慢的原因。 (4)Sun等人在GST相变机理的研究方面也做了大量工作,他们通过理论计算认为亚稳态GST由具有岩盐对称的重复单元构成,立方结构对称性导致空位高度有序且呈层状排列,快速相变的原因是由于非晶以及亚稳相局域结构具有相似性. 此外由于2,3配位的Te原子的聚集导致了在熔融以及非晶GST中Te原子周围存在较多的孔洞,孔洞和Te原子在快速可逆相变过程中起重要作用。  参考文献 [1]汪昌州.基于相变存储器的相变存储材料的研究进展[J].材料导报,2009,23(8):96-102. [2]吴良才.相变存储器材料研究[J].中国科学,2016,(10):126-134. [3]尹琦璕.相变存储器材料的研究进展和应用前景[J].新材料产业,2016,(10): 56-62. [4]刘金垒.新型非易失相变存储器PCM应用