某BIT测试性指标验证系统的研究与实现.pdf

第29卷第4期增刊 仪 器 仪 表 学 报 V01．29No．4 兰塑墨堡垒旦 g塾i璺曼!旦12旦堡璺!旦!璺垡塑!堕!!幽堡皇坐 垒匹兰Q塑 某BIT测试性指标验证系统的研究与实现 舒晓芬王晓峰余鹏 (北京航空航天大学工程系统工程系北京100083) 摘要在分析构建测试性指标验证系统原因的基础上，以新的思路引入了故障注入技术，并对验证系统的结构及工作原理、 软硬件实现、驱动程序设计和验证系统工作流程进行了深入研究。该验证系统的实现利用了FleA、PCI、V皿L技术和一种混 合故障注入方法，增强了验证系统的易操作性和可实现性，从而使得该验证系统有较强的实际应用价值。 FPGA 关键词BIT混合故障注入VHDL TheResearchandRealizationofaBIT IndexVerification Testability System ShuXiaofen Yu WangXiaofengPeng 100083 (BeihangUniversity，DepartmentofProjectSystemEngineeringBering China) Ab建ractBasedonthe ofreasontoconstructthe indexverificationfault analysis testability system．ainjection structureandwork have methodhasbeenintroducedinanew ofverificationsVstem way,besides，the principle andakindof havebeen been indetails．FPGA，PCI，VHDL mixedfault analyzed technologies injectiontechnique inthis makethe is to andrealizeandthus verification applied system，whichproposedsystemveryeasyoperate be can in widelyappliedpracticalapplications． BIT mixedfault VHDLFPGA Keywords injectiontechnique 有的设计指标，严重的降低了它诊断检测结果的可 1 引言 信度，影响了使用和维修人员对BIT的信任，阻碍 了其效能的充分发挥和广泛应用。 BIT(Buiit-in Test，即机内测试)技术是研