烧结载量对ZnBi片式压敏电阻器电性能的影响.pdf

中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会论文专刊 烧结载量对Zn—Bi片式压敏电阻器电性能的影响 祝忠勇唐斌赖杨 (广东风华高新科技集团有限公司，肇]良#526020) 时，产品的电性能最好，非线性系数大于30，漏电流小于5斗A。 关键词 烧结装载量zn—Bi系片式压敏电阻器电性能 stor i I ZHUZhong—Yong，TANGBn．LAYang 109． KeywordssinteringloadZn——Bi—·basedchipvaristorelectricproperty 度提高表面贴装技术得到了很大的发展，与此同时，随着敏感度的不断提高，电路中半导体芯 片在电脉冲冲击下显得越来越弱。通过传导和感应线路的各类电磁噪声、浪涌电流、甚至人体 静电放电均能使整机产生误动作或损坏半导体元件。因此，有必要为芯片安装辅助的片外 ESD抑制器件，由于片式压敏电阻器具有体积小、通流容量大、响应速度快、表面安装性好和 实现低压等特点，已成为新一代电子产品ESD保护的首选元件。 随着手机、数码相机、便携式电脑产业的迅速发展，对于片式压敏0402型低电压产品的需 求量愈来愈大，而在该产品系列大生产中，存在很多工艺技术问题需要解决，其中烧结工序的 装载量问题解决非常关键。通过多次试验发现，烧结装载量对该系列产品的电性能将产生重要 影响。 1实验过程 样品的制备 91— 中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会论文专刊 胶、 2实验结果分析 实验结果列于表1，不同烧结装载量对电性能影响见图1，图2；不同烧结装载量产品微观 结构SEM照片见图3n 表1 不同烧结装载量样品的电性能(烧结条件：995℃，6h) 心运目参数 ＼＼ ＼性窿 装载量鹰 压敏电压／v 非线性系 泄漏电流／uA 样品编号＼ ＼ ， Sl 2．5 9．91 14 85 S2 5 9．09 21 25 S， 10 8．41 32 3 S4 20 10．05 19 15 S5 40 11．00 12 75 图1不同烧结装载量对非线性系数的影响 图2不同烧结装载量对泄漏电流的影响 -92 中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会论文专刊 【a)w=2．59 (b)W=109 (P)w=409 图3不同烧结装载量样品的SEM照片(2000×，烧结条件：995℃，6h) 从表1，图l，图2可以看出，随着烧结产品装载量的增多，产品的压敏电压开始降低，非线性 系数增大，漏电流减小；在装载量为l眙时，产品的电性能最好；随着烧结产品装载量的继续增 多，产品的压敏电压又开始升高，非线性系数降低，漏电流增大。说明瓷料配方和工艺条件确 定后，产品的装载量也就随之确定了，并有一个最佳值。另外，当ZnO等原料愈细，烧结温度降低 后，产品电性能最佳时的烧结载量也会随之增加。 对于片式压敏电阻器而言，其