热处理对MOA用ZnO电阻片电气性能的影响兼谈电阻片厚度对其压比的影响.pdf

中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会论文专刊 热处理对MOA用ZnO电阻片电气性能的影响 兼谈电阻片厚度对其压比的影响 王振林高奇峰姜玉根 宁波镇海国创高压电器有限公司宁波市315207 摘要：本文报导有关热处理对MOA用Zn()电阻片性能的影响及再次热处理使已抽查试验的 电阻片性能得到恢复的实验研究情况与结果。通过优化热处理r艺，不仅提高了电阻片的老化 性能，而且比不热处理可降低压比5～6％，提高方波、大电流通流能力及热稳定性。综述了热 处理改善ZnO陶瓷电气性能的原因。提供r电阻片的残压比与其厚度成反比关系的数据，厚度 增加一倍，压比约降低4．5％左右；并引证了其原理。 关键词：ZnO电阻片热处理二次热处理电气性能厚度与压比原因 reattllent property， 5．4％withthieknessincreaseonelimes； andtheprincipleoftakediscusse【1． heat-treatment Key：ZnOresistanceBlocksoveragainheat—treahnenI eIertrica】(，hatacterjsticthereason 1．前言 热处理工艺是ZnO电阻片制造过程中非常重要的工序，不少学者针对热处理对氧化锌陶瓷 非线性电阻老化性能的影响及其工艺已进行过研究”2”。 近几年以来我公司随着电阻片及避雷器出El量的日益增加，而且外商对电阻片的厚度要求 越来越高；生产中发现，在正常热处理工艺条件下随着热处理炉装片量的增加及电阻片厚度及 直径的增大，电阻片的老化性能有变差的现象，尤其是直径大且厚度较厚的电阻片。为此，我 们针对调整热处理工艺对电阻片老化性能的影响以及再次热处理对已经抽查试验试品(方波、 140- 中国电子学会敏感技术分会第十二届电压敏学术年会论文专刊 大电流及老化)性能的影响与不热处理对性能的影响；尤其是对电阻片的电阻温度系数的 影响进行了多年实验研究。其中有些未见有文献报导过。 另外，利用同一规格不同厚度的电阻片测试了压比，得出了压比随厚度变化的关系。 本文旨在概述有关试验情况及结果，并加以分析讨论；供同行参考、批评指正。 2．试验概况与结果 2．1改进热处理工艺提高电阻片老化性能 (1)试验概况：为了改善直径大且厚的电阻片老化性能，采取提高热处理温度、延长保温 时间等措施，取得了较好的效果。为Jr评价电阻片的老化性能，采取提高试品温度的更为加速 老化方法，即控制试品温度在135±50C；按企标规定的荷电率施加电压；每天测一到两次功 耗；老化时间不少于160hr。 (2)试验条件：选择有代表性的四种规格的电阻片各两片测试了老化前后的U，。U，。及 测试的。功耗是用RLP—lI氧化锌电阻片功耗仪测试的。 (3)测试结果：测试结果列入表1。 表l改进热处理工艺后的电阻片老化性能 试品 试品 老化前 老化后 老化性能(功耗w) 荷电率 规格 编号 U10KA U10KAP1ct P2ct I(ct (％) UimA／IL Umm 1 4．48／8 7．58 4，56／7 7．72 655 4．69 O．716 90 2 4．51／7 7．52 4．59／7 770 539 4．38 0．813 D6x3 6．60／8 1072 6．64／7 10．74525 4470851 90 3l 4 656／9 1070 6．60／8 10．72530 4．75 0．896 D5X5 4．5】／7 857 534／9 861 421 3．42 0．812 85 24．5 6