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[范文]-13103105-材料现代分析方法
《材料现代分析方法》课程教学大纲
一、课程基本信息
课程编号课程类别:专业核心课程
适应专业:材料物理
总学时:54学时
总学分: 3
课程简介:
本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。
授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民 解挺编,国防工业出版社,2005。
参考书目:
[1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,2003年。
[2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出版社,2003年。
[3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,2001年。
[4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,2001年。
[5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。
[6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,2001年。
[7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,2001年。
二、课程教育目标
通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。
三、教学内容与要求
第一章 X射线的物理基础
教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理
教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限
教学时数:2学时
教学内容:X射线的性质,X射线的产生,X射线谱,X射线与物质的相互作用,X射线的衰减规律,吸收限的应用
教学方式:课堂讲授
教学要求:
了解X射线的性质和产生机制,了解X射线管的结构。
深刻认识X射线谱的两种不同的波谱,即连续X射线谱和特征X射线谱。
深刻理解X射线与物质的相互作用过程,掌握X射线的散射、吸收过程。
掌握X射线的衰减规律。
了解吸收限的应用。
第二章 X射线衍射原理
教学重点:布拉格方程、衍射矢量方程及劳埃方程的推导
教学难点:产生X射线衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算
教学时数:3学时
教学内容:倒易点阵,X射线衍射方向,X射线衍射强度
教学方式:课堂讲授
教学要求:
了解倒易点阵的构建和倒易矢量。
掌握布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解、X射线衍射强度。
了解倒易球、等同晶面、多重性因子、半高宽、厄瓦尔德图解等基本概念。
掌握产生衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算。
掌握影响衍射强度影响的五大因素。
第三章 多晶体X射线衍射分析方法
教学重点:X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法
教学难点:德拜法
教学时数:4学时
教学内容:德拜照相法,X射线衍射仪法
教学方式:课堂讲授
教学要求:
了解德拜相机德基本结构。
了解德拜法试样德制备和实验参数选择。
熟练掌握德拜相的指数标定。
了解X射线衍射仪法的仪器结构,了解测角仪的结构。
掌握X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法。
第四章 X射线衍射方法的应用
教学重点:物相分析基本原理
教学难点:宏观应力测定
教学时数:4学时
教学内容:点阵常数的精确测定,X射线物相分析,宏观应力测定
教学方式:课堂讲授
教学要求:
掌握点阵常数的测定方法,了解误差来源及其消除方法。
掌握X射线物相分析的方法和步骤,熟练掌握物相定性分析方法。
了解X射线残余应力测定原理、单轴应力测定原理、平面应力测定原理。
掌握X射线在应力测量中的具体应用。
第五章 透射电子显微镜结构
教学重点:电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构
教学难点:电磁透镜的像差及其对分辨率的影响
教学时数:6学时
教学内容:光学显微镜的分辨率,电子波波长,电磁透镜,电磁透镜的像差及其对分辨率的影响,电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构,透射电镜的主要部件,透射电镜的功能及发展
教学方式:课堂讲授
教学要求:
了解光学显微镜的分辨率,认识光学显微镜分辨率的局限性。
了解电子波波长,了解电磁透镜。
掌握球差、色差、像散、景深、焦长的基本概念。
掌握电磁透镜的像差及其对分辨率的影响。
掌握透射电子显微镜的结构,能熟练绘出5级成像系统光路图。
了解透射电镜的主要部件及其功能。
了解透射电镜的功能及发展。
第六章 电子衍射
教学重点:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定
教学难点:单晶电子衍射花样的标定,复杂电子衍射花样
教学时数:6学时
教学内容:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定,多晶电子衍射图的标
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