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（1）质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数 （2）原子量=质子数+中子数 （3）中子数=原子量—质子数=原子量—原子序数 （4）电磁波的波长λ和频率v以及波速c（光速）的关系式为：λ=c/v （5）连续谱存在一个最短波长λmin 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关 E=eV=hv=hc/λmin 式中：h—普朗克常数，h=6.626*10-34j.s λmin=hc/eV=12.4/V(KV) c—光速，c=3.0*108m/s e—电子电量，e=1.6*10-19C(库仑) V（KV）—管电压单位（千伏） 连续谱中最大强度对应的波长λIM=1.5λmin （6）X射线的产生效率?等于连续射线的总强度IT与管电压V和管电流i的乘积之比，即： ? =IT /Vi=KiZV 式中：Ki —比例常数 V —管电压 Z—原子序数 可见，X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。在其他条件相同的情况下，管电压越高，X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压，X射线产生效率也越高。 （7）γ 射线衰变规律：N=Noe-λT 式中： N—衰变后强度 No—初始强度 λ—比例系数（衰变常数） T—时间 半衰期：放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。用T1/2表示，单位（年） T1/2=0.693/λ （8）窄束，单色射线的强度衰减规律：I= Ioe-uT 式中：I—透射射线强度 Io—初始射线强度 u—材料的线衰减系数（cm-1） T—透射厚度(cm) 半价层：是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。用T1/2表示，单位（年） T1/2= 0.693/ u （9）宽束，多色射线的强度衰减规律：I=IP+IS=IP(1+IS/IP)=IP(1+n) 考虑总的强度衰减结果，可以归纳以下关系式：I= Ioe-uT （10）宽束多色射线强度衰减规律：I= Ioe-uT（1+n） 式中： I—透射射线强度 Io—初始射线强度 Ln(I/Io)=-uT u—平均衰减系数（cm-1） T—透射厚度(cm) n —散射比IS/IP (11)对斜靶定向X射线管，其有效焦点面积SO=Ssinα 式中：靶与垂直管轴线平面的夹角，一般α=200 所以近似关系式：SO=S/3 （12）黑度D定义为照射光强LO与透射光强L之比的常用对数值，即： D=lg(LO/L) L= LO/10D (13)射线胶片的感光特性主要有：感光度（S），灰雾度（DO），梯度（G），宽容度（L），最大密度（Dmax）,这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。 感光度（S）：S=1/KS 式中：KS为曝光量 梯度（G）：可用胶片特性曲线上某一点切线的斜率表示，此斜率称为胶片梯度G或称为胶片反差系数γ 平均梯度G=(D2-D1)/(lgE2-lgE1) 式中：E1—产生D1所需曝光量 E2—产生D2所需曝光量 宽容度（L）：指胶片有效黑度范围相对应的曝光范围。 L=10 lgE2-lgE1=E2/E1 （14）像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。 以丝型像质计表示的射线照相的相对灵敏度K计算： K=d/T*100% 式中