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广工半导体物理与器件总复习2讲述.ppt

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广工半导体物理与器件总复习2讲述

复习内容 一、 基本概念 1 突变结,线性缓变结,单边突变结 2. 空间耗尽区,耗尽层近似: 3.正向注入(扩散),反向抽取(漂移) 正偏时:扩散流大于漂移流,n区电子扩散到p区(-xp)处积累成为p区的少子;p区的空穴扩散到n 区的(xn)处积累成为n区的少子。这一过程称为正向注入。 反偏时:p区的电子漂移到n区,n区的空穴漂移到p区,这一过程称为反向抽取 二极管的基本原理和公式 (1)pn结空间耗尽区的电荷、电场、电势的分布 (2)pn结的内建电势 4.二极管的存贮延迟时间和反向恢复时间及其物理根源 存贮延迟时间和反向恢复时间的定义? 5.功函数,电子亲和势, 6.欧姆接触、整流接触 二 画图题 平衡态时pn结,nn结,pp结的能带图 pn结均匀突变结和线性缓变结的空间耗尽区的电荷、电场、电势的分布图 3. 整流接触和欧姆接触的能带图(四种情况、平衡态,非平衡态) 4.发射区的发射效率、基区传输系数和三极管的放大系 数的定义 四。画图题 三极管在平衡态下的能带图、电荷、电场、电势的分布图 * * 半导体物理与器件复习2 突变结 线性缓变结 杂质分布 x0, N(x)=NA x0, N(x)=ND N(x)= ax 0 xn -xp eNd ? 单边突变结 线性缓变结 (耗尽近似) p+n结 pn+结 耗尽近似是对实际电荷分布的理想近似,包含两个含义: (1)在冶金结附近区域,-xpxxn,与净杂质浓度相比,载流子浓度可忽略不计 (2)耗尽区以外的电荷密度处处为0。 (3)理想pn结的I-V特性关系式 (4)pn结定律 势垒电容C j:形成空间电荷区的电荷随外加电压变化 扩散电容Cd:p-n结两边扩散区中,当加正向偏压时,有少子的注入,并积累电荷,它也随外 电压而变化.扩散区的电荷数量随外加电 压的变化所产生的电容效应。 物理根源:正偏时,电子从n区注入到p区,空穴从p区注入到 n区,在耗尽层边界有少子的积累。导致p-n结内有等量的过剩电子和空穴-电荷的存储。突然反向时,这些存储电荷不能立即去除,消除存储的电荷有两种途径:复合和漂移。都需要经过一定时间ts, p-n结才能达到反偏状态。 真空能级E0:电子完全脱离材料本身的束缚所需的最小能量 功函数:从费米能级到真空能级的能量差 电子亲和势:真空能级到价带底的能量差 肖特基势垒高度: ?B=?M-? 半导体一边的内建电压: Φm Φs Φm Φs Φm Φs Φs Φs 金属和p型半导体接触 第十四章 习题14.3 判断MS接触的类型 1. 基本要求 基区宽度远远小于少子扩散长度:增大基区输运系数 NENBNC:增大发射系数 发射区 收集区 发射结 收集结 发射极 收集极 基极 基区 PNP NPN 复习内容 偏置模式 E-B极性 C-B极性 放大 正偏 反偏 饱和 正偏 正偏 截止 反偏 反偏 倒置 反偏 正偏 5. 三极管的四种偏置模式下VEB和VCB的极性

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