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嵌入式系统基础教程_讲_JTAG技术
* * * est Access Port控制JTAG扫描链的逻辑,一条或多条JTAG链可以挂在TAP上,通过TAP引出JTAG接口信号到芯片外面,一般一个芯片内部有多条JTAG链,但是只有一个TAP,即芯片引脚中只有一个统一的JTAG口。 * 机械工业出版社,2008年3月第1版《嵌入式系统基础教程》的配套课件 本科生嵌入式系统课程 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * EmbeddedICE-RT是EmbeddedICE的一个新版本。 * * * 其意义就是,比较Av,Cv和A,C中没有Mask的数据。 而Am,Cm就是起到Mask作用。 即,Mask中对应的位如果置1,对应的位永远满足条件。 可以在MASK寄存器中屏蔽掉任意位以便使其值不受影响。 C[9,0]=ARM7TDMI核的控制总线、其他观察点寄存器和EXETERN信号的组合。 * * * * * * * * * 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 软件断点(续) 此时,系统所读入的指令的数据刚好和data value中的数字相吻合,系统就进入了Debug模式。这就是软件断点的工作过程。 软件断点的数目不受ARM内核的Watchpoint数目的限制,不管系统设置多少个软件断点,仅仅使用了ARM内核的一个Watchpoint资源。 软件断点是通过替换系统的断点地址的指令实现的,所以,软件断点只能在可写的存储器的地址中设置(比如:RAM),而不能在ROM(比如:Flash)中设置。 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 断点设置小结 总之,在有两个Watchpoint资源的ARM7TDMI的内核中,断点可以有如下情况: 2个硬件断点,没有软件断点 1个硬件断点,任意多个软件断点 任意多个软件断点 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 3.4.8 ARM调试接口 ARM7TDMI调试接口基于IEEE标准1149.1-1990以及标准测试访问口和边界扫描体系结构(Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)。 调试扩充可强迫内核进入下列模式之一: 暂停模式(调试模式):在断点或观察点,内核进入调试状态。在调试状态,内核停止工作并与系统的其它部分隔离。当调试完成后,调试主机恢复内核和系统状态,程序重新开始执行。 监控模式:在断点或观察点,形成指令中止或数据中止而不进入调试状态。内核仍正常接受和服务中断。 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 调试阶段 外部调试接口信号或嵌入式ICE-RT逻辑请求迫使ARM7TDMI进入调试状态。激活调试的事件如下: 断点(取指); 观察点(数据访问); 外部调试请求。 使用JTAG格式的串行口检测ARM7TDMI的内部状态。在暂停模式下,这可确保不使用外部数据总线即可将指令串行插入进内核流水线。 例如,在调试状态,存储多个寄存器指令(STM)可以插入指令流水线,输出ARM7TDMI寄存器的内容。数据可以串行移出而不影响系统的其它部分。 在监控状态,JTAG接口用于在调试器与运行在ARM7TDMI核上简单的监控程序之间传送数据。 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 时钟 ARM7TDMI核有如下2个时钟: MCLK是存储器时钟; DCLK是内部调试时钟,由测试时钟TCK生成。 在正常工作期间,内核由MCLK时钟驱动,内部逻辑保持DCLK为低电平。 当ARM7TDMI在暂停模式时,在TAP状态机控制下,内核由DCLK供给时钟,MCLK自由运行。选择的时钟在信号线ECLK上输出以便由外部系统使用。 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 调试接口信号 与调试接口有关的外部信号主要有如下3个: BREAKPT和DBGRQ是处理器进入调试状态的系统请求信号; DBGACK是指示内核处于调试状态的信号。 进入调试状态的入口 (1) 在断点进入调试状态 (2) 在观察点进入调试状态 (3) 由调试请求进入调试状态 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 调试接口信号(续) 调试状态下ARM7TDMI的动作 在暂停模式下,除nMREQ和SEQ外,所有存储器接口输出发生与存储器系统异步的改变。 在监控模式下,ARM7TDMI继续执行指令,存储器接口的行为正常。 2008年3月14日 南京大学计算机系 * ARM处理器的实时JTAG仿真器与开发板的连线图 2008年3月14日 南京大学计算机系 * 第5讲重点 测试摩尔定律 边界扫描单元和JTAG扫描链 ARM的JTAG调试结构 ARM7TDMI的JTAG扫描链结构 JTAG状态机的状态转换图 JTAG标准信号和JTAG工作原理 ARM公
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