数字电子技术实验指导书解读.doc

````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````````《 数字电子技术 》 实验指导书 实验一 数字电路实验箱的使用与TTL门电路逻辑功能的测试 实验目的： 本实验要求学生掌握数字电路实验箱的使用方法。学会测量小规模集成电路逻辑功能。 实验设备及器件 1、SAC-DS4数字逻辑试验箱 1个 2、万用表 1块 3器件： 74LS20双四输入与非门 1片 74LS00四二输入与非门 2片 74LS86四二输入异或门 1片 实验内容与步骤 与非门逻辑功能测试 用74LS20双四输入与非门进行实验，按图1-1接线测试。 （2）按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，将测试结果填入表中。 表1-1 输入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A B C D 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 2、异或门逻辑功能测试 （1）用74LS86双四输入异或门进行实验，按图1-2接线测试。 （2）按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯和万用表，将测试结果填入表中。 表1-2 输入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A B 0 0 0 1 1 0 1 1 3、与非门逻辑功能测试 用74LS00双四输入与非门进行实验，按图1-3接线测试。 （2）按表1-3要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯和万用表，将测试结果填入表中。 表1-3 输入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A B 0 0 0 1 1 0 1 1 4、用与非门74LS00实现“或逻辑”和“异或逻辑”，要求写出逻辑表达式与真值表，画出逻辑图并验证。 四、预习要求 复习TTL逻辑门的有关内存。熟悉与非门集成电路74LS00等引脚排列及使用规则，画出实验中所用的测试表格。 五、实验报告要求 （1）按实验内容的要求画出实验测试图．分析处理实验结果．并写出实验结论。 （2）与非门一个输入端接连续脉冲，其余是何状态允许脉冲通过？是何状态禁止脉冲通过？ （3）为什么异或门又称可控反相器？ （4）实验中出现过什么问题．你是如何解决的? （5）讨论TTL与非门闲置输入端的处理方法。 实验二 译码器、数据选择器及应用 一、实验目的： 本实验要求学生掌握中规模集成译码器的逻辑功能和使用方法，熟悉数码管的使用；中规模集成数据选择器的逻辑功能及使用方法；学习用数据选择器构成组合逻辑电路的方法。 二、实验设备及器件 1、SAC-DS4数字逻辑试验箱 1个 2、万用表 1块 3器件： 74LS20双四输入与非门 1片 74LS138 3-8线译码器 1片 74LS153双四选一数据选择器 1片 三、实验内容与步骤 74LS138引脚如图2-1所示。 译码器功能测试 根据表2-1用开关设置G1，G2A’,G2B’及A2，A1，A0的状态，借助万用表或指示灯观测Y0—Y7的状态并填入表2-1中。 图2-1 表2-1 G1 G2A’ G2B’ A2 A1 A0 Y0 Y1 Y2 Y3 Y4 Y5 Y6 Y7 0 X X X X X X 1 1 X X X 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1 用74LS138与74LS20搭接一位全减器，写出设计过程并画出逻辑图，在实验箱上验证，将结果填入表2-2中。 表2-2 Ai Bi Ci-1 Ci Si 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0