数字电子技术实验详解.docx

实验一 门电路一、实验内容1.测试集成逻辑门电路的逻辑功能，研究逻辑门电路的基本功能特点及应用；2.逻辑转换仪的使用，总结说明逻辑转换仪的功能；3.整理实验结果，并进行分析、总结。二、实验目的1.掌握基本逻辑门电路的功能测试。2.掌握常用逻辑门电路的功能测试。3.熟悉逻辑转换器的使用。实验一 门电路1.测试基本逻辑门电路逻辑功能1)与门:（1）测试电路图如图1-1所示：图1-1 与门逻辑功能测试(2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-1:表1-1 与门测试结果输 入输 出ABY电压（V）0000010010001115(3)逻辑功能分析： 有0出0 ，全1出1。条件全部具备，事件发生。2)或门:（1）测试电路图如图1-2所示：图1-2 或门逻辑功能测试(2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-2:表1-2 或门测试结果输入输出 ABY电压（V）0000011510151115(3)逻辑功能分析：有1出1，全0出0。具备一个条件，事件发生。3)非门:（1）测试电路图如图1-3所示：图1-3 非门逻辑功能测试(2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-3:表1-3 非门测试结果输入输 出AY电压（V）100015(3)逻辑功能分析： 条件具备，事件不发生；条件不具备，事件发生。2.测试常用基本逻辑门电路逻辑功能1)与非门:（1）测试电路图如图1-4所示：图1-4 与非门逻辑功能测试 (2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-4:表1-4 与非门测试结果输 入输 出ABY电压（V）0015011510151100(3)逻辑功能分析：有0出1 ，全1出0。2)与或门:（1）测试电路图如图1-5所示：图1-5 或非门逻辑功能测试 (2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-5:表1-5 或非门测试结果输 入输 出ABY电压（V）0015010010001100(3)逻辑功能分析：有1出0 ，全0出1。3)异或门:（1）测试电路图如图1-6所示：图1-6 异或门逻辑功能测试 (2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-6:表1-6异或门测试结果输 入输 出ABY电压（V）0000011510151100(3)逻辑功能分析：输入相异，输出1；输入相同，输出0。4)同或门:（1）测试电路图如图1-7所示：图1-7 异或门逻辑功能测试 (2) 测出输出逻辑状态值及电压值填表1-7:表1-6 同或门测试结果输 入输 出ABY电压（V）0015010010001115(3)逻辑功能分析：输入相同，输出1；输入相异，输出0。3.逻辑转换器的使用1）创建数字逻辑电路2）用逻辑转换器得到电路的真值表3）用逻辑转换器得到最简表达式4）用逻辑转换器得到用与非门构成的电路实验后记：实验二编码器与译码器一、实验内容1.验证8线--3线优先编码器74LS148逻辑功能；2.验证3线—8线译码器74LS138逻辑功能；3.研究编码器和译码器的基本功能特点及应用。二、实验目的1.验证编码器与译码器的逻辑功能；2.熟悉集成编码器与译码器的测试方法及使用方法。实验二编码器与译码器1、8-3线优先编码器实验步骤：如图2-1所示连接电路：图2-18-3线优先编码器功能测试切换9个单刀双掷开关进行仿真实验，将结果记录入表2-1中，输入端“1”表示高电平，“0”表示低电平，“X”表示高低电平都可以。输出端中的“1”表示探测器亮，“0”表示探测器灭。该编码器输入、输出均为低电平有效。将测试结果填入表2-1。表2-18-3线优先编码器真值表2、3-8线译码器实验步骤：如图2-2所示连接电路图2-23-8线译码器功能测试切换3个单刀双掷开关进行仿真实验，实验结果记录如下表中。输入端中的“1”表示接高电平，“0”表示接地电平。输出端中的“1”表示探测器亮，“0”表示探测器灭。该译码器输入高电平有效，输出低电平有效。将测试结果填入表2-2。表2-23-8线译码器真值表2、思考题：（1）利用两块8-3线优先编码器74LS148D设计16-4线优先编码电路，然后仿真实验验证16-4线优先编码的逻辑功能，列出真值表。实验线路如图2-3所示：图2-316-4线优先编码器逻辑功能测试真值表如表2-3所示：表2-316-4线优先编码器真值表 (2)利用两块3-8线译码器74LS138D设计4-16线译码器，然后仿真验证4-16线译码逻辑功能。线路图如图2-4所示：图2-4 4-16线译码器逻辑功能测试真值表如表2-4所示：表2-4 4-16线译码器真值表实验后记：实验三数据选择器一、实验内容1.熟悉数据选择器的基本功能及测试方法；2.掌握用数据选择器作逻辑函数产生器的方法。二、实验目的1.测试74LS151和7