涂层厚度测量详解.ppt

3）单点校正法 在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用 “︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或与样品的厚度值一致。然后，将探头直接放在裸基体上进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复测几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正CAL”键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成了。 4）任意多个校正点校正法 如果用户接触到的被测物件形状比较特殊，而且涂层厚度的范围也比较大，同时精度又有更高的要求，那么用户可以自行挑选多个校正点（最多10个）进行校正，仪器允许的校正点厚度为0 ～ 1999μm。有一点请注意，在实际进行校正的过程中，多个厚度执行顺序必须由小到大依次进行。具体的操作步骤和上面的传统校正法类似，此处就不再重复了。 五、仪器的其它操作说明 1、通过多次测量后，按“统计RES”键可依次显示出测量次数、测量结果的平均值、最大值、最小值。按了“统计RES”键后，如再次测量，仪器会清除原有的测量值，并存储新的测量值，并重新计算各个统计值。 如果在测量中，因探头放置不稳，显示出一个明显错误测量值，可按“清除DEL”键消除该测量值，以免影响统计结果的准确性。 2、仪器使用完毕后，按“开/关”键，关闭电源。本仪器还有自动关机功能，如不进行任何操作，显示屏上也没有显示，仪器会在大约五分钟后自动关机。 3、本仪器有电源状态指示功能，当电源电压不足时，显示器左上角显示“BAT”。此后，仪器虽仍能工作约二小时，但建议用户此时应更换电池。 4、除上述常规的工作模式外，本仪器还有一种连续显示模式。在常规工作模式下,按“︿”或“﹀”键即可进入连续显示模式，这时显示器右上角出现“FREE”标志。在该状态下，测量值不储存，每次测量完成后，探头不必提离被测物，测量和显示仍继续进行。这样，通过探头在被测物表面移动，可观察到测量值的连续变化。 再次按“︿”或“﹀”键可退回到常规工作模式，这时“FREE”标志消失。 测量值的变化一般是由于涂镀层厚度不均匀引起的，但被测零件的表面曲率变化或边缘效应以及基体表面粗糙度也会造成测量值的变化。 QNIX1200膜厚仪 一、QNIX1200膜厚仪系统概述 　　 QNIX1200膜厚仪可提供存储功能和RS232电脑接口。它有探头Fe。Fe探头用来测量涂（镀）在钢、铁上的非磁性涂层，如漆、塑料、瓷、铬、铜、锌等。 二、QNIX1200膜厚仪测量范围 测量范围为0－－2000μm或0-100mil不具备存储功能的仪器，可同时拉动两边的开关实现测量单位之间的转换。 在开机状态下，同时向前推动两边的开关并停留一秒一上，单位发生转换。仪器在存储状态工作时，可通过相应的程序软件实现从μm到mil之间的转换。 三、QNIX1200膜厚仪分辨率 仪器的分辨率和测量涂层的厚度有关，具体如下： 测量范围为0.0-99.9μm时，分辨率为0.1μm测量范围为100-999μm时，分辨率为1μm QNIX1200膜厚仪温度范围仪器自身带有温度补偿，是测量数据更精确。使用温度范围：5℃－50℃QNIX1200膜厚仪电池的使用和更换该仪器使用9V碱性干电池，电池安装在仪器较宽的一端。当液晶显示“BAT”时，表示电池已经供电不足，建议更换新的电池。在更换新电池的同时，内部存储的数据仍被保留。 四、QNIX1200膜厚仪的调零 在首次使用仪器、在不同材料上工作、装入新的电池或不断操作仪器等情况下，仪器需要重新调零。调零时，QNix 1200的探头应放在相应的调零板上，也可以放在喷涂之前的工件上面，将探头垂直按在调零板的表面，推动两侧开关中的任何一个，仪器发出“滴”的一声响后松开开关，把仪器抬起来，调零完毕。仪器调零后回去测调零板应该显示0.0，如果显示的数值比较大，超出仪器的误差允许范围，则调零失败，请重复上面的调零步骤。 五、QNIX1200膜厚仪测量 测量时，把仪器的探头垂直的压在被测物体的表面。测量钢、铁基体时，“Fe”标签向上；测量其他非磁性金属基体时，“NFe”标签向上。仪器被错误放置时，液晶显示“ERR”。超过测量范围或在非金属基体上检测时，液晶显示“InFi”. 仪器自动开机，10秒不用自动关机。在测圆柱形表面时，移动红色的护套，使其上的V型槽对准被测件。不要在磁铁上进行检测，磁场将影响Fe探头的测量数据，强电磁场可能影响所有测量数据。 六、QNIX1200膜厚仪可能显示的信息 1．Fe = 在钢或者铁上检测 2．ERR = 操作错误 3．InFi = 使用错误基体，超出测量范围 4．BAT = 电池供电不足，需要更换新电池 涂层厚度测量 TT130 超声波测厚仪 超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声