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Module18硬体电路之安全设计
Module 18:硬體電路之安全設計 學習目的 本模組目的在於介紹硬體電路之安全設計。此模組將介紹目前硬體電路之安全設計技術,含一般需求之硬體安全設計、防禦攻擊之硬體安全設計、加強防護之硬體安全設計、硬體系統環境之安全設計等。 Module 18:硬體電路之安全設計 學習目標: 了解何謂硬體安全電路 了解硬體安全電路之攻擊威脅 了解單晶片模組之硬體安全設計 了解多晶片模組之硬體安全設計 了解獨立系統模組之硬體安全設計 了解硬體電路之安全設計原則 Module 18:硬體電路之安全設計 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 Module 18-2:單晶片模組之硬體安全設計 Module 18-3:多晶片模組之硬體安全設計 Module 18-4:獨立系統模組之硬體安全設計 Module 18-5:硬體電路之安全設計原則 結語 Module 18:硬體電路之安全設計 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 資通安全產品之類別: 依 module 17,具安全功能之資通產品,可依外在特性分類為 單晶片模組之產品:單顆密碼晶片,如加密晶片、IC卡 多晶片模組之產品:由多顆晶片組成的具安全功能之電路板,如外加卡(Add On Card)、HSM (Hardware Security Module)卡 獨立系統之產品:具安全功能之獨立資通產品,如手機、HSM Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 硬體電路之安全攻擊威脅 不論各類資通產品或系統之內部硬體組成為何,攻擊者皆可採取 侵入式攻擊:攻擊者侵入至硬體電路之內部,進行竊取、或竄改該產品之秘密資料。 非侵入式攻擊:攻擊者藉由從硬體電路之外部,進行側錄硬體電路對外之通訊資料,或側錄硬體電路洩漏出來之內部運作訊息,以解析出該產品之秘密資料。 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 侵入式攻擊之攻擊點: 攻擊者可針對資通產品之各環節,如系統、封裝、電路、韌體等可能脆弱點,攻擊其罩門。 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 侵入式攻擊之攻擊點(續) 系統︰ 初始實驗與探測 系統輸出入分析 遠端攻擊 電源啟動攻擊 封裝︰ 破壞封裝,取得內部電路 探測 (X光射線, 熱度, 光線) 旁路防破壞機制 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 侵入式攻擊之攻擊點(續) 電路︰ 電路設計與佈線分析 匯流排線探測 錯誤誘發攻擊 時間攻擊 電路狀態分析 韌體︰ 探測程式記憶體 修改矽智產(IP) 旁路系統安全機制 旁路偵錯能力 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 侵入式攻擊之攻擊方式: (1) 外部介面攻擊 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 (2)內部介面攻擊 打開安全外封裝 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 (2)內部介面攻擊(續) 電子零件封裝攻擊 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 (2)內部介面攻擊(續) 電子零件封裝攻擊(X光透視) Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 非侵入式攻擊之攻擊方式: 側通道攻擊(side channel attack):經由非正規通路讓資通裝置或系統不能提供安全服務之行為。目前Side Channel Attack 主要是量測資通產品之電力消耗(電壓)波形,解析其重要安全參數。 SPA (Simple Power Analysis) DPA (Differential Power Analysis) DFA (Differential Fault Analysis) 電磁波輻射攻擊 (EM radiation attack) :經由側錄資通安全裝置或系統本身之電磁波輻射,解析其重要安全參數之行為。 TEMPEST (Transient Electro-Magnetic Pulse Emanation STandard ) Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 側通道攻擊與電磁波洩漏攻擊圖示: 以探棒(側通道攻擊)或適當天線(電磁波洩漏攻擊)檢測資通產品洩漏出來之訊號,送示波器顯示取樣,再轉送至電腦解析。 Module 18-1:硬體電路之攻擊威脅與安全設計簡介 硬體電路之安全防護 外部
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