椭偏光法测量薄膜的度和折射率.doc

椭偏光法测量薄膜的厚度和折射率 实验目的： 了解椭偏光法测量原理和实验方法。 熟悉椭偏仪器的结构和调试方法。 测量介质薄膜样品的厚度和折射率。 实验原理： 1.椭圆偏振方程 在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n1、n2、n3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉，如图(1-1) 图(1-1) 这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中（*），用r1p、 r1s表示光线的p分量、s分量在界面1、2间的反射系数， 用r2p 、r2s表示光线的p分、s分量在界面2、3间的反射系数。 由多光束干涉的复振幅计算可知： 其中和分别代表入射光波电矢量的p分量和s分量，和分别代表反射光波电矢量的p分量和s分量。现将上述、 、、四个量写成一个量G，即： 我们定义G为反射系数比，它应为一个复数，可用tgψ和Δ表示它的模和幅角。上述公式的过程量转换可由菲涅耳公式和折射公式给出： 上述复数方程表示两个等式方程： Re（tg)=Re Im (tg) = Im 若能从实验测出ψ和Δ的话，原则上可以解出n2和d (n1、n3、λ、φ1已知)，根据公式(4)~(9)，推导出ψ和Δ与r1p、r1s、r2p、r2s、和δ的关系： 由上式经计算机运算，可制作数表或计算程序。 这就是椭偏仪测量薄膜的基本原理。若d是已知，n2为复数的话，也可求出n2的实部和虚部。那么，在实验中是如何测定ψ和Δ的呢？现用复数形式表示入射光和反射光： 由式(3)和(12)，得： 其中： 这时需测四个量，即分别测入射光中的两分量振幅比和相位差及反射光中的两分量振幅比和相位差，如设法使入射光为等幅椭偏光，/ = 1，则tgψ=|/|；对于相位角，有： 因为入射光-连续可调，调整仪器，使反射光成为线偏光，即-=0或π，则Δ=-(-)或Δ=π-(-)，可见Δ只与反射光的p波和s波的相位差有关，可从起偏器的方位角算出。对于特定的膜，Δ是定值，只要改变入射光两分量的相位差(-)，肯定会找到特定值使反射光成线偏光，-=0或π。 2.椭偏法测量和的实验光路 1）等幅椭圆偏振光的获得，如图1-2。 2）平面偏振光通过四分之一波片，使得具有±π/4相位差。 3）使入射光的振动平面和四分之一波片的主截面成45°。 图 1-2 反射光的检测 将四分之一波片置于其快轴方向f与x方向的夹角α为π/4的方位，E0为通过起偏器后的电矢量，P为E0与x方向间的夹角。，通过四分之一波片后，E0沿快轴的分量与沿慢轴的分量比较，相位上超前π/2。 在x轴、y轴上的分量为： 由于x轴在入射面内，而y轴与入射面垂直，故就是，就是。 图 1-3 由此可见，当α=π/4时，入射光的两分量的振幅均为E0 / √2，它们之间的相位差为2P-π/2，改变P的数值可得到相位差连续可变的等幅椭圆偏振光。这一结果写成： 实验仪器： 本实验使用多功能激光椭圆偏振仪，由JJY型1(分光计和激光椭圆偏振装置两部分组成，仪器安装调试后如图19.6所示，其各部件功能如下： 光源：包括激光管和激光电源。激光管装在激光器座上，可以作水平、高低方位角调节和上下升降调节，发射632.8nm的单色光 1.He-Ne激光管 2.小孔光闸 3.平行光管 4.起偏器 5.1/4 波片 6.被测样品 7.载物台 8.光孔盘 9.检偏器 10.塑远镜筒 11.白屏镜 ? 小孔光闸：保证激光器发出的激光束垂直照射在起偏器中心。 起偏器：产生线偏振光，读数头度盘刻有360个等分线，格值为1(，游标度数为0.1(，随度盘同步转动，其转角可在度盘上读出。 1/4波片：将线偏振光补偿为等幅椭圆偏振光，装在起偏器前端，与起偏器共用游标。其读数为读数头度盘内圈刻度值。 载物台：支承被测样品，其使用调节方法见分光计说明书。 光孔盘：为防止杂散光进入检偏器而附设，可自由转动，并具有读数标尺，但它的方向对实验并无影响。 检偏器：与起偏器结构相同。 望远镜筒与白屏目镜：观察反射光状态。 实验内容： 1. 按调分光计的方法调整好主机. 2. 水平度盘的调整. 3. 光路调整. 4. 检偏器读数头位置的调整和固定.