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Um：物质的质量吸收线密度，指单位质量某物质在单位值长度上对X射线的吸收。 XRF: X射线荧光光谱 TEM 透射电子显微镜，是以波长比极短的电子束作为照明源，用电磁透射聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。 球差 是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的。 衍射衬度象 ：晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异形成的衬度象。 2、步进扫描 又称阶梯扫描，将计数器在某些位置停下，在足够长的时间内进行定时计数测定后使此转过一个适当小的角度，再进行下次测量。 6、色差 由于成像电子波长（能量）变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差。处理方法：尽可能减小样品的厚度，以利于提高分辨率。 9、热分析 利用物质在温度变化过程中发生一系列物质变化显现的一系列热效应，质量变化，体积变化，与宏观表现，分析判断测试样中的物样组成、所含杂质，了解试样的热变化特性的一种方法。 三、判断题 1. 滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。（ ×） 2. 满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。（√） 3. 当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（ ×） 4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（ ×） 5. TG曲线上基本不变的部分叫基线。（√） 6.有λ0的X射线光子的能量最大。（√） 7.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。（√） 8.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。（×） 9.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×） 10.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。（×） 1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。（×） 2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。（×） 3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。（√） 4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（√） 5、基线是ΔΤ=0的直线。（×） 1．连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。（×） 2．凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。（×） 3．色差是由于能量非单一性引起的。（√） 4．当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。（×） 5．非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（√） 1.有λ0的X射线光子的能量最大。（×） 2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。（×） 3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。（×） 4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（×） 5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。（√） 四、问答题 简述特征X射线产生的机理？ 答：入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的。 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？ 答：相同点：两者都是通过调制物理信号得到的像衬度 不同点：二次电子的强度与原子序数没有明确的关系，但对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感。而背散射电子对原子序数或化学成分的变化敏感。 与现有一些常用的测试技术相比，试述热分析具有的主要特点？并举例说明。 答：（1）不受式样分散的限制，即使是粒度小于1μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。 什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？ 答：物理意义：只要同一种元素，不论其处于何种物理化学状态，其所发射的特征X射线具有相同波长。 简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别？ 答：连续X射线谱与特征X射线谱。产生机制的主要区别为，两者的X射线能量来源不同。 连续X射线：电子束电子撞击阳极靶后，固自身能量不足，无法激发阳极靶材原子内层电子，只作瞬间的减速，损失动能一部分转化为内能另一部分以X射线光子形式辐出，由于电子束中大量电子的速度不同，减速情况不同，故可形成连续谱即连续X射线能量