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实验一组合逻辑电路实验一组合逻辑电路
实验二 组合逻辑电路
一、实验目的
1.掌握组合逻辑电路的功能测试。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.学会二进制数的运算规律。
二、实验所用仪器和仪表
1.二输入四与非门74LS00 3. 数字万用表(DT9106)
2.二输入四异或门74LS86
三、实验内容
1.组合逻辑电路的功能测试
(1) 用2片74LS00组成图2-1逻辑电路。为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号和引脚号。
(2) 图中A、B、C、接电平开关,Y1、Y2接电平指示灯(LED)。
(3) 按表2-1要求,改变A、B、C的状态,填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。
(4) 将运算结果与实验结果进行比较。
输 入
输 出
A
B
C
Y1
Y2
0
0
0
0
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
0
1
0
0
1
0
1
0
1
0
2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。
根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y是A、B的异或,而进位Cn上是A、B相与。
Sn=Ai⊕Bi Cn=Ai?Bi 其中⊕代表半加
故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成。如图2-2
(1) 在实验箱上用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)按图2-2接电路。
Ai、Bi接电平开关,Sn、Cn接电平指示灯。
(2)按表2-2要求改变Ai 、Bi状态,将测试结果填入表2-2中。
表2-2
输入端
Ai
0
1
0
1
Bi
0
0
1
1
输出端
Sn
Cn
3.测试全加器的逻辑功能
(1) 写出图2-3电路的逻辑表达式。
(2) 根据逻辑表达式列出真值表。
(3) 根据真值表画出Sn、Cn的卡诺图.
(4) 按原理图接电路并测试,填写表2-3各点状态。
表2-3
Ai
Bi
Ci-1
Y
Si
Ci
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
四、实验报告
1.整理实验数据、图表,并对实验结果进行分析。
2.总结组合逻辑电路的分析方法。
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