原子吸收与原子荧光光谱法剖析.ppt

* 四、定量分析方法及应用 1. 定量分析方法 If=Kc If 与待测元素浓度c成正比关系 ；可采用标准曲线法进行定量分析，制作If ~ c标准曲线，用内插法求出元素的含量 2. 荧光测定中的干扰 （1）荧光猝灭——受激原子与其它粒子碰撞以无辐射跃迁损失能量，导致荧光效率，If↓。可用减少溶液中其它干扰粒子的浓度来避免 （2）自吸干扰——待测元素浓度过高时，基态原子密度过大, 产生自吸现象, If 与 c不成线性关系 （3）光散射干扰——固体微粒引起光散射干扰，减少散射颗粒，或扣除散射背景光 * 3. 应用 广泛应用于冶金、地质、石化、环保、农业、医学等各个领域 不如原子吸收和原子发射广泛。 * 作业：17, 18, 20 * * 2. 加入释放剂 加入释放剂与干扰物质生成更稳定或更难挥发的化合物，使待测元素释放出来，从而排除干扰。 例： Ca2+ Ca2P2O7 焦磷酸钙 加入LaCl3作为释放剂 LaCl3+H3PO4=LaPO4+3HCl PO43- 高温 PO43-生成更稳定的LaPO4，抑制了PO43-对Ca2+ 的化学干扰， Ca2+ 被释放出来，提高了测定的灵敏度。常用的释放剂：LaCl3、Sr(NO3)2等。 * 3. 加入保护剂 保护剂（通常是配位剂）与待测元素形成更稳定的更易原子化的化合物，把待测元素保护起来，使干扰元素不能与待测元素结合。 例：为消除PO43-对Ca2+测定的干扰，可加入过量EDTA，EDTA与Ca2+生成稳定的配合物，CaY2-，它在火焰中易于原子化，抑制了PO43-对Ca2+测定的干扰 例：Al3+干扰Mg2+的测定，它们在火焰中生成MgO·Al2O3，加入保护剂8–羟基喹啉，与干扰元素Al生成对热稳定性较强的配合物，抑制了Al对Mg的干扰 * 此外还可加入机体改进剂、采用萃取、沉淀、离子交换等分离方法提前把干扰离子与待测元素分离，然后再测定。还可利用加入缓冲剂消除干扰。 * 待测元素在原子化器中转化为基态原子后继续电离，生成离子不产生共振吸收，使基态原子浓度下降，A下降，引起误差，应避免原子电离。 火焰温度越高，待测元素的电离能越低，电离程度越大，电离干扰越大。 减少干扰： １.选择合适的火焰温度，选择燃气、助燃气 ２.加入消电离剂：加入的消电离剂，电离电位越低越好，作用是抑制待测元素电离。碱金属常作为消电离剂：CsCl、KCl、NaCl等 三、电离干扰及其抑制 * 四、光谱干扰及其抑制 光谱干扰主要有谱线干扰和背景干扰两种 （一）谱线干扰和抑制 通常选择最灵敏的共振线做分析线，分析线附近有单色器不能分离掉的待测元素的其它特征谱线，将产生干扰，灵敏度下降，工作曲线弯曲。 例如Ni共振线232.0nm附近有231.6 nm的特征谱线。 一般可用减少狭缝宽度可减少这种干扰。 * （二）背景吸收和抑制 ——来自于原子化器的一种光谱干扰，它包括分子吸收和光散射引起的干扰。 １.分子吸收：在原子化过程中所产生的气体分子，氢氧化物，难解离的盐类，难熔氧化物等分子对待测元素共振线的吸收而产生干扰，带光谱。产生正误差。 * 无机酸的分子吸收：H2SO4、H3PO4在250nm以下有强的分子吸收，测在紫外吸收的元素时，一般用HNO3、HCl，王水处理样品，而不用H2SO4、H3PO4 火焰气体的吸收。火焰成分有N2、OH、CO2、CN，它们都会出现分子吸收，但火焰点燃后，通过“调零”方法即能克服这些影响。 * ２.光散射 原子化过程中产生的固体微粒散射光，造成虚假吸收，使吸光度升高。 I0 I 分子吸收、微粒散射都是带光谱，产生虚假吸收。 * 3. 扣除背景吸收方法 通常用空白校正，氘灯校正等方法消除背景吸收。 ① 空白校正法 配空白溶液（含除待测元素外的基体元素）A空白（背景） 配待测溶液（待测元素＋基体元素） A试(待测元素 +背景) A校=A试(待测元素 +背景)- A空白(背景) * 两次测定吸光度差为待测元素的真实吸光度。 A待测= A待+背 - A背=A总-A氘 ② 氘灯校正法 氘灯是连续光谱（190—360nm），它和空心阴极灯的锐线光源通过切光器交替照射在原子化器上。氘灯的能量被背景和被测元素吸收，但被测元素是线吸收，它占整个连续光谱的吸收信号很小，可以忽略。因此可以认为，氘灯测得的就是背景吸光度。 A氘=A背 空心阴极灯测得的是被测元素吸光度和背景吸光度， A空=A总=A待+