质量管理理论与实物部分公式.docVIP

 常用分布表 １１概率函数或密度函数均值方差二点分布b(1,p)P(X=x)=px(1-p)1-x,x=0,1..pP(1-p)二项分布b(n,p)P(X=x)= px(1-p)n-x,x=0,1..nnpnp(1-p)泊松分布P()P(X=x)=, x=0,1,2..超几何分布h(n,N,M)P(X=x)=, x=0,1.r,r=min(n,M)正态分布N()P(x)=, 标准正态分布N(0,1)01指数分布Exp()P(x)=均匀分布U(a,b)P(x)= 对数分布LN()P(x)= []2[-1]单个正态总体均值，方差的检验 检验法条件H0H1检验统计量拒绝域检验已知t检验未知检验未知检验正态总体均值、方法、标准差的1-置信区间 参数条件1-置信区间已知未知未知未知图： 总平均值： 极差： 平均极差值： 图的中心线及控制限: R图的中心线及控制限： 图： s图控制限： 图的控制限: c控制图： 图 移动极差控制图： 单值X控制图： u控制图： 图 极差控制图： 中位数控制图： 不合格品率P控制图：  CP值的范围级别过程能力的评价参考CP≥1.67Ⅰ过程能力过高(应视具体情况而定)1.33≤CP＜1.67Ⅱ过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持1.00≤CP＜1.33Ⅲ过程能力充足,担技术管理能力较勉强,应设法提高为Ⅱ级0.67≤CP＜1Ⅳ过程能力不足,表示技术管理能力已很差,应采取措施立即改善CP＜0.67Ⅴ过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿 态分布，性质1：设X～N(),则 性质2： 质量特性X的不合格率=+  总离平方和平方和： 组间平方和因子A的平方和： 组内平方和或误差平方和： ，, , b=Lxy,a=y-bx 相关指数： 标准残差： 正交表： 批不合格品率： 不合格品百分数： 超几何分布计算法： 二项分布计算法： 泊松分布计算法： 平均检验总数： 平均检出质量： 超过上限TU不合格品率： 低于下限TU不合格品率： 常规控制图 分布控制图代号控制图名称正态分布 （计量值）均值—极差控制图均值—标准差控制图中位数—极差控制图单值—移动极差控制图二项分布 (计件值) p不合格率控制图不合格品数控制图泊松分布 (计点值)单位不合格数控制图c不合格数控制图过程相对稳定系数的评价参考 过程相对稳定系数 drσ的范围评价drσ10%接近稳定10%≤ drσ20%不太稳定20%≤ drσ50%不稳定drσ≥50%很不稳定 短期过程能力指数与过程性能指数 符号名称计算公式无偏移短期过程能力指数无偏移上单侧短期过程能力指数无偏移下单侧短期过程能力指数有偏移短期过程能力指数无偏移过程性能指数无偏移上单侧过程性能指数无偏移下单侧过程性能指数有偏移过程性能指数图： 总平均值： 极差： 平均极差值： 图的中心线及控制限: R图的中心线及控制限： 图： s图控制限： 图的控制限: c控制图： 图 移动极差控制图： 单值X控制图： u控制图： 图 极差控制图： 中位数控制图： 不合格品率P控制图： 正态总体均值、方法、标准差的1-置信区间 参数条件1-置信区间已知未知未知未知  CP值的范围级别过程能力的评价参考CP≥1.67Ⅰ过程能力过高(应视具体情况而定)1.33≤CP＜1.67Ⅱ过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持1.00≤CP＜1.33Ⅲ过程能力充足,担技术管理能力较勉强,应设法提高为Ⅱ级0.67≤CP＜1Ⅳ过程能力不足,表示技术管理能力已很差,应采取措施立即??善CP＜0.67Ⅴ过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿产品的可靠函数：R（t）=P(Tt) 累积故障分布函数：F（t）=P(T≤t)R（t）+ F（t）=1 故障率： 平均失效（故障）前时间： 平均故障间隔时间： =MTBF= 系统的故障率： 元器件计数法：，产品总的故障率，第i种元器件的数量，第i种元器件的通用故障率，第i种元器件的通用质量系数。 单边置信下限：，故障数，为试验时间。 鉴别比：, 为MTBF检验