无损检测之射线检测2016.ppt

第二章 射线检测 ; X射线是从X射线管中产生的，X射线管是一种二极电子管，将阴极灯丝通电，使之白炽，电子就在真空中放出，如果两极之间加几十千伏以至几百千伏的电压（管电压）时，电子就从阴极向阳极方向加速飞行，获得很大的动能，（电子的动能一部分转变为X射线能，其中大部分都转变为热能。 ）当这些高速电子撞击阳极时，放出X射线。X射线管所发出的波长分布是连续的，能谱为连续谱。; γ射线是从放射性同位素的原子核中放射出来的。γ射线的光谱为线状谱。γ射线的能量随着同位素的种类的不同而不同。 因为同位素时刻不停的衰变并放出射线，所以射线源的放射强度随着时间的推延而逐渐减弱，强度减到初始强度一半的时间叫做半衰期。 在无损检测中常用的同位素有Co60（钴60）、Cs137（铯137）、Ir192（铱192）、Se75（硒75）等。;1、谱线分布不同：X射线是X射线管所产生的是连续谱，γ射线是γ源所产生的是线状谱； 2、产生的原理（机理）不同：X 射线是在 X 射线管中,在高压电场作用下使电子高速撞击阳极靶而激发出来的,γ 射线是某些放射性元素的原子核自然裂变而辐射出来的。;3、射线能量的取决因素不同：X射线的最短波长λmin（能量）与管电压千伏值（KVP）有关：λmin=1.24/Kvp，γ射线的波长（能量）只与放射源本身有关； 4、射线强度的取决因素不同：X射线的强度与射线管管电压和管电流有关； 5、检测时间（曝光时间）不同：一般情况下，X射线曝光时间较短、γ射线曝光时间较长。;(三)射线照相检验法的原理;厚度为T毫米的物体中有厚度为ΔT毫米的缺陷时，x射线透过无缺陷部位的底片的黑度为D，而x射线透过有缺陷部位的底片黑度应为D+ΔD。把这种曝过光的胶片在暗室中经过显影、定影、水洗和干燥。再将底片在观片灯上观察，根据底片上有缺陷部位与无缺陷部位的黑度图象不一样，就可判断出缺陷的种类、数量、大小等结构内部的信息。这就是射线照相探伤的原理。;(四)射线检测法中几个名词术语;(四)射线检测法中几个名词术语;(五)射线检测法中主要事项;(五)射线检测法中主要事项;射线源;采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏??要求的情况下允许放宽γ 射线最小透照厚度取透照厚度下限值的1/2：采用其它透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度要求的前提下，需要经过同各方同意。A 级和AB 级时Ir-192 源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75 源的最小透照厚度可降至5mm;b、胶片选择原则;胶片系统的主要特性指标;胶片选择原则;c、增感屏的选择原则：一般应选用金属增感屏或不用增感屏。;3、焦距F的选择;4、曝光量;5、透照方法;6、胶片有效透照长度问题;现场进行X 射线检测对控制区和管理区的划分要求 ;现场进行γ 射线检测对控制区和管理区的划分要求;(六)射线检测设备;X射线机分类;X射线机的基本结构;X射线管;X射线管的真空度;X射线管的靶材及性能;高压发生器;冷却系统;国内X射线机主要生产商;国外X射线机主要生产商;γ射线机;γ射线机;γ射线机基本结构;源容器;?射线源的选用;射线探伤机选择;(六)射线检测设备;41;42;43;44;45;46;携带式定向辐射X射线探伤机 ;移动式工业X射线探伤机 ;(七)射线照相工艺要点;②照相规范的确定：要得到好的射线照相底片，除了合理的选择透照方式外，还必须选择好的透照规范，使小缺陷能够在底片上尽可能明显地辨别出来，就是说照相要达到高灵敏度。为了达到这一目的，除了选择质量好的细颗粒胶片外，还要取得好的射线照相对比度和清晰度。;为得到高的缺陷检出率。射线照相规范的选择应注意以下几点：;B、 射线源的选择。应在能穿透检测工件的前提下尽可能地降低射线的管电压。应选择小尺寸的射线源，可以得到清晰度好的底片。 C、 透照焦距的选择。焦距愈大，被检物体与胶片贴得愈紧，半影就愈小，在选择透照焦距时，应将焦距选得大一些。但是由于射线的强度与焦距的平方成反比，所以不能把焦距选得过大，不然透照时射线强度将不够，所以焦距的选择应在满足几何不清晰度要求的前提下合理选择。 D、 曝光量的选择。曝光量E为射线强度I与曝光时间T的乘积，曝光量的大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高，那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度，但这样的底片灵敏度不够好，所以一般情况下X射线照相的曝光量选择15mA·min以上。;E、? 胶片、增感屏的选择与底片黑度控制。 F、 象质计的应用。用底片上必须显示的最小钢丝直径与相应的象质指数来表示照相的灵敏度。所谓射线照相的灵敏度是射线照相能发现最小缺陷的能力。射线照相灵敏度分为绝对灵敏度和相对灵敏度。 G、底片评定。;专题讨论一：编制射线检测工艺卡有什么作用;讨论二：射线检测