OEE系列---基于TOC理论的OEE的应用.doc

基于TOC理论的OEE的应用 摘 要：在介绍OEE与TOC理论的基础上，将两者的优缺点互补，引入IEE概念进行瓶颈诊断，开展了TPM活动以提高系统整体效率，同时提出一宏观与微观相结合的企业数据收集与处理模型。结合目前国内 HYPERLINK /electronic/76/electrical20206029550_1.html \o 半导体 \t _blank 半导体厂实时性差的特点，介绍了一晶圆制造过程实时系统工作流程。 关键词：设备综合效率OEE, 约束理论TOC, 设备固有效率 中图分类号：C37; C931.6 文献标识码：A 文章编号：1003-353X(2005)08-0004-04 1 引言  HYPERLINK /electronic/76/electrical20206029550_1.html \o 半导体 \t _blank 半导体制造投资巨大，尤其是设备成本极其昂贵，因此，有效利用设备一直是企业关注的焦点。由于OEE（整体设备效率）考虑了设备所有的运行情况，计算方便准确，且更加适合柔性生产设备，弥补了传统计算效率方法的不足，因而得到了广泛的应用。但由于OEE针对的是单台设备，缺乏系统性，因此本文引入TOC理论,在对OEE与TOC进行简要介绍的基础上,提出一基于TOC理论的OEE应用模型,将定性与定量相结合,以期弥补OEE的不足,提高 其应用的效率。 2 OEE简介 2.1 OEE概念及计算: OEE计量设备及其规定能力制造好零件的时间百分率，是全面生产维护的一部分，衡量着整个制造过程的绩效。 OEE由三个基本元素构成：可用效率（AE）、性能效率（PE）、合格品率（RQ）。 OEE计算模型如下: 2.2 OEE的分类:2.1 中介绍的是标准OEE的计算。另外，根据计算与分析的需要，OEE又可分为：产品OEE、需求OEE及群设备OEE。 （1）产品OEE（OEEp） 是在产品可获得情况下，对设备效率衡量的一种方法，它是在标准OEE中去除设备可运行但缺料加工的情况。其计算如下: （2）需求OEE (OEEd) 是衡量与产品计划有关的设备效率。计算需要有工厂产能模型，以标识设备计划闲置时间或计划无WIP时间。 OEEd从设备开动时间内去除了计划闲置时间，其计算公式如下 : （3）群设备OEE 目前SEMI(国际 HYPERLINK /electronic/76/electrical20206029550_1.html \o 半导体 \t _blank 半导体设备与材料组织)还未对其明确定义，对其本身衡量指标尚待进一步研究。 2.3 OEE实质OEE实质就是生产周期内理论加工时间和负荷时间的百分比，它可以从标准OEE的计算公式中推导出来 即实际产量与负荷时间内理论产量的比值。 2.4 利用OEE进行损失分析利用OEE可以进行主要设备损失分析。首先，通过OEE模型各子项的分析，可以很容易地找出影响设备效率的原因，然后有针对性地解决问题，达到提高设备效率的目的。OEE根据其三类元素将设备效率的主要损失归为六大类（表1）。 2.5 OEE的优点与不足与传统计算设备利用率的方法相比，OEE具有明显的优势。传统的方法仅专注于可用效率，OEE还考虑到效率及质量因素，它使决策者能同时关注设备的多方面，便于采取相应调整措施。但OEE也有其自身的局限性，它针对的是单台设备，缺乏全局优化观点。计算OEE虽然方便，但要分析其相应参数，却需大量精确数据，而由于生产的动态性及环境的变化，这些数据不易获得。要对OEE进行改善，需大量的人力、物力，可能涉及到组织的每一方面，如生产、维护、工艺部门。 如果OEE仅仅被用作内部效率指标，则它对生产系统的贡献是微薄的。因此，OEE需要与系统化观点结合，才能实现生产系统的整体改善。 3 TOC理论: 3.1 TOC理论简介约束理论（Theory of Constraints）是以色列物理学家Goldratt提出的。 TOC理论认为，对于任何一个由多阶段构成的系统来讲，如果其中一个阶段的产生取决于前面一个或几个阶段产出的话，那么，那个产出率最低的环节决定着整个的产出水平。换句话说，一个链条的强度是由它最薄弱的环节来决定的。 在企业的整个经营业务流程中，任何一个阻碍企业去更大程度增加有效产出或减少库存和运行费的环节，就是一个“约束”， 通常也称作“瓶颈”。TOC的管理思想就是首先抓瓶颈，使最严重的制约因素凸现出来，从而从技术上消除了“避重就轻”、“一刀切”等管理弊病发生的可能。由此，短期的效果是“抓大放小”，长期的效果是大问题、小问题都没忽略，从而使企业整体生产水平和管理水平日益提高。 3.2 TOC理论优缺点优点：在生产系统