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第2章 数字集成电路的基本元件
【课前思考】
【学习指南】
2.1 概述
2.2 TTL集成门电路
2.3 MOS场效应晶体管
2.4 MOS门电路
2.5 74系列中小规模集成电路芯片
2.6 可编程逻辑器件
【本章小结】
2.1 概述
数字集成电路由晶体管和电阻等元件组成。
晶体管:
双极型晶体管(bipolar transistor) ;
金属-氧化物-半导体(metal oxid semiconductor, MOS)场效应晶体管。
集成电路:
晶体管 - 晶体管逻辑(transistor- transistor logic, TTL)电路 ;
MOS 逻辑电路:其中CMOS电路为主流產品。
数字集成电路中,晶体管相当于一个受控开关。
在稳定状态下或者工作于截止状态、或者工作于充分导通(达到饱和)状态,
其输入/输出电平或者是高电平(H)、或者是低电平(L)。
最简单的门电路
非门(反相器)
最简单的门电路(续)
或非门
最简单的门电路(续)
与非门
逻辑电平和阈值
V H – min:高电平的下限;
V L – max:低电平的上限。
理想情况: V H – min 略高于VCC / 2; V L – max 略低于VCC / 2,
希望( V H – min - V L – max )尽量小, 抗干扰性能好。
硅二极管的伏安特性示例
硅三极管的伏安特性示例
简单非门静态工作点分析:
当vi = 0V 时,晶体管截止,理想情况下, vo = vce = VCC,由于漏电流的存在,vo = vce VCC。
,本例通过适当选择R b,使 i b = 80A。
在 i b = 80A的情况下,适当选择Rc的数值(Rc = 1K),使晶体管达到饱和。从图中看出, 。
2.2 TTL集成门电路
典型的TTL与非门
TTL与非门的外特性及其参数
电压传输特性 :
TTL与非门的外特性及其参数(续)
驱动负载能力(扇出系数N):
TTL与非门的外特性及其参数(续)
驱动负载能力(扇出系数N):
驱动门的输入皆为高电平时,输出为低电平。灌入电流 i p 过大将使输出电平v0抬高,负载个数受限 N 的典型值为 8.
TTL与非门的外特性及其参数(续)
驱动负载能力(扇出系数N):
驱动门的输入之一为低电平时, 输出为高电平。驱动门通过T4的发射极向负载门供给电流(i d),负载增多将使拉出电流 i d 加大,导致输出电平降低。
拉电流与灌电流相比,扇出系数N受灌电流 影响更大。
TTL与非门的外特性及其参数(续)
传输延迟:
tpHL代表下降延迟,tpLH代表上升延迟。
通常用其平均值代表该门的传输延迟。
tpd = (tpHL + tpLH )/ 2
TTL与非门的外特性及其参数(续)
延迟时间分析:
晶体管由截止到导通或由导通到截止所经历的时间,此延迟时间和晶体管自身特性有关。
与非门输出电平变化时对负载电容(寄生电容)充放电所经历的时间 。随着负载的增多,此延迟时间增大。
TTL与非门的外特性及其参数(续)
功耗:
空载功耗:
未带任何负载时的静态功耗称为空载功耗。
浪涌电流引起的功耗:
TTL与非门的输出电平发生变化时,在一个短暂的时段里,T3、T4和T5会同时导通,此时有一个很大的瞬时电流从电源VCC 经T3、T4和T5流向地,此尖峰电流称为浪涌电流。浪涌电流不仅使动态功耗增大(随电路的工作频率增大而增大),而且会在电源线和地线上造成干扰信号。
集电极开路的与非门
集电极开路的与非门又称OC门(open collector)
集电极开路的与非门(续)
OC门应用之一:输出端并联形成“线或”逻辑 。
OC门应用之二:驱动其它器件,例如用于驱动显示灯。
TTL三态门
当en = H 时,三态门相当于一个普通的 TTL反相器(非门);
当en = L 时,三态门中的晶体管 T2、T3、T4 和 T5 全部截止,输出端 f 相当于一根悬空的导线,这种状态称为高阻态Z。
TTL三态门(续)
三态门的其它形式:
TTL三态门(续)
用三态门构建总线
约束条件 :en1,en2, enienn中最多只能有一个取值为1。满足此约束条件下:
当 en i = 1 时,f = xi。这表明可以用 eni 选择数据 xi ,使其到达输出端。
当en 1 = en 2 = = en i = en n = 0 时,f = Z,此时不选取任何数据
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