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VTRON 作业指导书 研发中心 /测试部/硬件测试组 第  PAGE 13 頁，共  NUMPAGES 13 頁 VTRON /VW/SI/001 CLOCK信号完整性测试指导书 功能: 信号完整性 阶段:验证 文档版本: A 发布日期: 2009/06/24 批准人员审核人员准备人员BY曾瑜黄世民梁波DATE2009/06/242009/06/242009/06/24 目录  TOC \o 1-3 \h \z \u  HYPERLINK \l _Toc233620512 1. 目的  PAGEREF _Toc233620512 \h 3  HYPERLINK \l _Toc233620513 2. 适用范围  PAGEREF _Toc233620513 \h 3  HYPERLINK \l _Toc233620514 3. 测量设备  PAGEREF _Toc233620514 \h 4  HYPERLINK \l _Toc233620515 4. 参考文件  PAGEREF _Toc233620515 \h 4  HYPERLINK \l _Toc233620516 5. 注意事项  PAGEREF _Toc233620516 \h 4  HYPERLINK \l _Toc233620517 6．测试项目  PAGEREF _Toc233620517 \h 4  HYPERLINK \l _Toc233620518 7. 操作步骤  PAGEREF _Toc233620518 \h 5  ※ ※ 修 订 履 历 ※ ※ REV.修 订 内 容发行日期备 注A初 版 发 行2009/06/24 1. 目的 依照规格手册，介绍和规范在测量CLOCK信号时的操作。 2. 适用范围 用于VTRON拼墙和IDB产品 在做信号完整性量测时的应用。 3. 测量设备 Tektronix TDS 3034 Qty=1 Tektronix P6139A Probe Qty=2 4. 参考文件 4.1《TDS3034 操作手册》 4.2 相关测试点位组件的DATASHEET,线路图等。 5. 注意事项 5.1 确认测试人员静电环接触良好 5.2 在测量时应检查示波器是否运行正常 5.3 检查信号连接是否正确，接地是否合理 5.4 确定待测系统SUT 是否工作在预定的模式 6．测试项目 信号测试项测试点参考标准备注 CLOCK信号Vih (高电平幅值)芯片规格书Vil (低电平幅值))芯片规格书Tr (上升时间)芯片规格书Tf (下降时间)芯片规格书频率芯片规格书占空比芯片规格书正脉冲宽度芯片规格书负脉冲宽度芯片规格书周期芯片规格书抖动芯片规格书Overshoot芯片规格书Undershoot芯片规格