OMRON AOI Inspection.pdf

OMRON Omron (China) Co., LTD 外观检查机的检察原理（焊点检查） Color High Light方式 Blue Green Red 照相机拍摄图 平面部分的抽取 彩色 ＣＣＤ 照相机 照相机拍摄图 加色 照明 只反射平面部分 缓慢倾斜面的抽取 彩色 ＣＣＤ 照相机 照相机拍摄图 加色 照明 只反射缓慢倾斜部分 急剧倾斜面的抽取 彩色 ＣＣＤ 照相机 照相机拍摄图 加色 照明 只反射急剧倾斜面的光线 立体抽取 彩色 ＣＣＤ 照相机 照相机拍摄图 加色 照明 三维数据用二维数据 来表示 Omron’s Patented Color Highlight Method COLOR CAMERA RED GREEN BLUE BLUE GREEN COLOR RED LIGHT SOURCE 元件及焊点缺陷： 检测元件： 锡少或无锡， 锡多， 0201元件或更小(10u业内最小分辨率）, 浸润性(可焊性)， 空焊(虚焊), 0.3Pitch IC或更小， 桥接， 锡球， 特殊元件(如连接器，Socket等）， 气孔， 缺件， PLCC，SOJ等J型元件 移位/歪斜， 高翘， 插入元件(适用于波峰焊）等 极性， 引脚弯曲， 立碑， 错件， 翻身， 側立等 上述有些缺陷是采用灰度比的机器无法检测的，J型元件也是有些灰 度机器不能检测。 元件缺陷：存在 / 缺少, 移位/歪斜 ?元件缺陷：高翘 ?元件缺陷：未插入 焊点缺陷：桥接 ? IC 引脚间的桥接 ? CHIP元件间的桥接 焊点缺陷：未焊 ? Insufficient or missing solder defects ? Tantalum Capacitor ? Diode ? SOT 焊点缺陷：锡多 ? E