材料试验方法射X线衍射X射线光电子能谱.ppt

XRD、XPS分析方法;X射线衍射仪;X射线管;X射线的产生与性质;X射线产生的条件：; 当K电子被打出K层时，若L层电子来填充K空位，则产生Kα辐射。X射线的能量为电子跃迁前后两能级的能量差，即 ;X射线与物质的相互作用;X射线的强度;Ｘ射线衍射花样所含各种信息;;薄膜法光路;薄膜法功能与特点;薄膜測定实例（ITO薄膜）;薄膜测定实例（TiN涂层）;铜板上金涂层薄膜的测定;用薄膜法测定硬盘;用薄膜法测定硬盘;;X射线衍射法的应用;1. 晶体样品的物相分析;X射线定性物相分析的特点;X射线定性物相分析的局限性;定性物相分析原理;国际通用的标准卡片;标准卡片索引的使用;图5 X射线衍射法对矿物中药磁石的物相分析图谱;2. 晶胞参数与结构的测定;晶胞参数与结构的测定;应用实例;由此可得出金属铜点阵类型为面心立方结构;3. 平均晶粒尺寸测定;应用实例：电解二氧化锰晶粒大小测定;结晶度的测定;结晶度测定实例;结晶度计算; ; ;;; ;; ;; ;; ;;我所研究的方向：CaMO3系热电材料;;总结;总结1 精确测量晶体的点阵常数;总结2 物相分析;总结2 物相分析;总结3 应力测定;参考文献;X射线光电子能谱（ X-ray Photoelectron Spectroscopy , XPS);基本原理;XPS的仪器 Instrumentation for XPS;Instrumentation for XPS;基本概念;X射线光电子能谱分析;光电子能谱的应用;一、元素定性分析;定性分析 特点;元素组成鉴别 操作;2.XPS定性分析方法;图5-11 标准XPS谱图示例 (a) Fe； (b) Fe2O3;2.XPS定性分析方法;XPS定性分析;二、元素定量分析定量分析原理：光电子能谱测谱峰强度是该物质含量或相应浓度的函数。 影响谱峰强度的因素： 仪器因素；光电离过程和光电离截面的影响；样品表面组分分布不均、表面污染XPS的定量计算本底扣除；理论模型法；灵敏度因子法 ;定量分析;峰强度的测量 图例; 化合物的结构与它的物理、化学性能有密切关联，X射线光电子能谱可以直接测量原子内壳层电子的结合能化学位移，来研究化合物的化学键和电荷分布。;化学结构分析 原理;1.玻璃表面的研究 ;2.水泥熟料中硅酸钙的水化表面 ;Reference : 1、《材料结构表??及应用》，吴刚主编，化学工业出版社 2、《现代分析技术》，陆家和，陈长彦主编，清华大学出版社;感谢您的关注