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实验六 NPN器件TCAD模拟实验
实验调查
掌握NPN器件的特性,转移特性曲线,IV特性曲线,放大倍数等
二、实验目的
1. 熟悉Silvaco TCAD的仿真模拟环境;
2、掌握NPN器件设计流程
掌握器件特性的仿真流程
掌握使用Tonyplot观察仿真仿真结果
三、实验要求
1、实验前必须仔细调查实验调查的内容
2、根据程序完成NPN器件的设计仿真
四、实验指导
器件结构设计步骤:
1、 创建一个初始网格结构
2、初始化硅衬底
3、进行 Boron离子注入
4、进行 Boron扩散
5、淀积多晶硅栅
6、进行Polysilicon掺杂
7、刻蚀多晶硅
8、多晶硅氧化
9、 退火
10、进行二次 Boron离子注入
11、形成侧氧
12、进行三次 Boron离子注入与退火
13、镜像得到完整NPN结构
14、形成发射级和基极接触
15、定义电极
16、 保存ATHENA结构文件
图一 NPN三极管
器件仿真步骤:
1、结构说明
2、材料模型说明
3、数学计算方法的说明
4、解析条件说明
5、结果分析
图二 NPN三极管转移特性
图三 NPN三极管IV特性
五、实验仿真程序
结构仿真程序:
go athena
# Polysilicon Emitter Bipolar (NPN)
line x loc=0.00 spac=0.03
line x loc=0.2 spac=0.02
line x loc=0.24 spac=0.015
line x loc=0.3 spac=0.015
line x loc=0.8 spac=0.15
#
line y loc=0.00 spac=0.01
line y loc=0.12 spac=0.01
line y loc=0.3 spac=0.02
line y loc=0.5 spac=0.06
line y loc=1 spac=0.35
# Initial Silicon Structure
init silicon c.arsenic=2e16 orientation=100
#
struct outfile=init_bjt.str
# Implant Boron
implant boron dose=2.5e13 energy=18 crystal
# Diffuse Boron
diffus time=60 temp=920 nitro
#
struct outfile=implant1_bjt.str
# Deposit Polysilicon
deposit polysilicon thick=0.3 divisions=6
#
struct outfile=poly_bjt.str
# Implant to Dope Polysilicon
implant arsenic dose=7.5e15 energy=50 crystal
#
struct outfile=dopepoly_bjt.str
# Pattern Polysilicon
etch polysilicon right p1.x=0.2
#
struct outfile=etchpoly_bjt.str
# Polysilicon Oxidation
method fermi compress
diffus time=25 temp=920 dryo2 press=1.00
#
struct outfile=polyox_bjt.str
# Annealing Process
diffus time=50 temp=900 nitro press=1.00
#
struct outfile=anneal_bjt.str
# Second Boron Implantation
implant boron dose=2.5e13 energy=18 crystal
#
struct outfile=implant2_bjt.str
# Deposit Spacer
deposit oxide thick=0.4 divisions=10
#
struct outfile=depositspacer_bjt.str
# etch the Spacer Back
etch oxide dry thick=0.50
#
struct outfile=etchspacer_bjt.str
# Forming P+ Base Region
implant boron dose=1e15 energy=30 crystal
#
struct outfile=implant3_bjt.str
# Second Annealing Process
diffus time
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