半导体可靠数学基本.ppt

第二章可靠性的数学基础;2.1可靠性的定量表征;可靠度R(t);失效概率F(t);失效概率密度f(t);失效率函数λ(t);Fit的物理含义：10亿个产品，在1小时内只允许一个产品失效，或1000小时只允许百万分之一的失效概率 例：短期工作卫星： λ100Fit=10-4/1000h 我国国家标准“电子器件失效率试验方法”中规定：失效率分为亚五级（Y），五级（W）…十级（S）;微电子器件与电路的失效规律;产品的寿命特征;平均寿命;可靠寿命;寿命方差和寿命标准离差;可靠性各特征量之间的关系;举例;常用的概率分布;威布尔分布;形状参数m;尺度参数t0 表示器件寿命的长短。当m、γ固定时，不同t0影响曲线横轴或纵轴尺度的放大和缩小，不影响曲线的基本形状 t0越大，寿命越长，但数据越分散，失效机理越复杂;威布尔分布的寿命特征;指数分布;正态分布;寿命特征：μ是平均寿命;1、标准正态分布 以μ为均值、σ为标??离差的正态分布，记为 N (μ, σ)。当μ =0,σ=1时的正态分布，用N(0,1)表示。 φ(u)和Φ(u)表示服从正态分布的密度函数和分布函数;对数正态分布;思考题;可靠性框图和数学模型;系统可靠性框图的分类;串联系统;串联系统的失效分布： 系统的失效分布密度： 系统的失效率： 系统与各单元的平均寿命的关系：;并联系统（并联冗余系统）;混联系统;并-串联系统将m个单元串联，再并联n个，构成n-m并-串联系统，设各单元可靠度为Rij，i=1，2，…，n，j=1，2，…，m，且所有单元的寿命相互独立，则得： 当各单元可靠度相等时：