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由于离子产生高温侧蚀,残影等问题总结

由于离子产生的残影,侧蚀总结 天马公司技术管理部 影像残留(image sticking) 高温侧蚀现象 由于液晶盒内存在离子,在电场作用下,离子会聚集在PI表面,其内建电场会导致显示异常,如下图所示: 驱动波形的影响: 一般产品采用SLA驱动波形,如下图: 由于负载及其它原因导致|+VLCD|≠|-VLCD|,离子在不对称电压下会向一基板定向移动,到达PI表面,而另一边的基板上相对离子减少,造成离子聚集,形成显示异常的现象。 * 高温侧蚀的一些特点: 1、在80?C,LCM点亮工作超过2hrs后出现,恢复到常温后消失; 2、侧蚀出现的位置是随机的,但是它们都是从子像素的边缘开始向内部扩散的; 3、它会因摩擦方向的改变而改变侧蚀的方向。 一些试验和总结 (制作的盒可能有些问题,没有具体的结论!) 标准盒验证线缝大小与发生侧蚀的关系 经太阳光照/UV光照后的LCD,同样也可以出现侧蚀 太阳/UV光照LCD 即使更换PI材料,没有侧蚀的LCD,人为的增加离子浓度,同样也可以出现侧蚀 加盐反向验证 可能改善并解决 更改频率 不能改善也不能解决 更换封口胶材料 只能改善不能完全解决 更换高性能的LC 试验报告 试验结论 试验目的 离子横向移动模型 K. Neyts, “Lateral ion transport in nematic liquid-crystal devices”, Journal of Applied Physics, Vol. 94, Number 6 ,pp.3891-3896(2003). 我们将以离子的横向移动以及离子与电场的作用的角度进行分析: 简单解释 玻璃 ITO PI PI ITO 玻璃 LC 离子 离子 简单解释 +VLCD -VLCD 以下是从Simens VDO ESTN产品SPEC中摘选的内容:    其中都特别强调要使用行翻转的驱动方式,以避免产生”Missing Segment, Image Retention”等缺陷。 简单解释  对于离子特别多的产品可以考虑用更高频率的波形来驱动。

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