基于光学扫描仪引导的CMM自动测量路径规划.pdfVIP

学兔兔 基于光学扫描仪引导的CMM自动测量路径规划 Autom aticCMM m easuringpath planningbased on the guideoftheopticalscanner 王 乔，成思源，杨雪荣，吕 瑟，张湘伟 WANGQiao。CHENGSi．yuan，YANGXue-rong，LVSe，ZHANGXiang-wei (广东工业大学机电工程学院，广州 510006) 摘 要：针对现阶段逆向工程中OMM对复杂零件自动测量路径规划方面的不足，提出了一种基于光学 扫描仪引导的CMM自动测量方法。通过光学扫描仪对无图纸的复杂零件进行初始的数据采 集、构建CAD模型，然后将此CAD模型导人到PC-DMIS中对CMM进行引导，从而实现自动测 量。通过对一个由自由曲面和规则特征组成的复杂模型进行实验，结果表明此方法能在较短 的时间内生成一个较优的无碰撞路径。 关键词：逆向工程；引导测量；自动测量；路径规划 中圈分类号：TP391．7 文献标识码 ：A 文章编号。1009—0134(2015)10(下)一0071—04 Doi：10．3969／J．Issn．1009-0134．2015．20．22 0 引言 等，无法通过直观的长宽高等参数来表达 。 随着工业生产的自动化程度越来越高，对产品的测 在进行数据采集的过程中需要注意在使用关节臂扫 量精度和效率都提出了一定要求，这就需要一种可行的 描仪采集复杂零件的表面数据时，无法对深孔的内部进 测量路径规划方法和手段。而 目前，新产品的开发很大 行数据采集 。对于深孔只需要确定孔的位置，孔深度的 程度上需要借鉴先进设计，在其基础上二次开发I”。在 测量可以在探针长度允许范围内采取手动测量模式。规 没有图纸的情况下，如何高质量高效率 的将实体模型数 划流程如图1所示。 字化成为逆向工程中一大难题闭。 逆 向工程 中，CMM和光学扫描仪两种测量设备使 复杂零件 I— 数据 I — 用相对较多，这两种测量设备各有特点：CMM采用的 关节臂扫 接触式测量在测量中稳定性好、精确度高，对盲区 (如 描仪 表面曲面II规则特征 深孔)测量具有一定优势，但测量速度较慢p；基于光 二[ 学的关节臂扫描采用非接触式测量，速度快，短时间内 初始点云 CMM测量 采集点云密度大，效率高，但精确度相对于接触式测量 皇 ▲ 初始建模 路径规划 设备较低 J。 —]I_【_一 本文通过结合非接触式关节臂扫描设备测量速度快 和接触式CMM精度高等优点，提出了一种基于光学扫 数据分析 描仪引导的CMM 自动测量路径规划技术。