X荧光光谱法测试地质样品中的锡.pdfVIP

第 43卷第 4期 当 代 化 工 Vo]．43．NO．4 2014年 4月 ContemporaryChemicalIndustry April，2014 X荧光光谱法测试地质样品中的锡 赵恩好 ，岳明新 ，周国兴 (I吉林大学 地球科学学院，吉林 长春 130026； 2．沈阳地质矿产研究所， 辽宁 沈阳 110032) 摘 要 ：采用x射线荧光光谱压片法对地质样品中sn进行测试 ，通过人T配置标准样品和国家标准样品 共同建立标准曲线 ，曲线梯度合理均匀 ，线性 良好。该方法采用O．／经验系数法进行基体校正，采用 Rh的康普 顿散射作内标，对于地质样品中sn元素的测试 ，检 限可达到3．59 gg／，样品的相对标准偏差可达到3．1％， 测试效果理想。 关 键 词：x射线荧光光谱；地质样品；标准样品； 经验系数法 ；康普顿散射 中图分类号：O657 文献标识码： A 文章编号： 1671—0460(2014)04—0634—02 DeterminationofTininGeolo#cal SamplesbyX．rayFluorescenceSpectrometry ZHA0En—hap， YUEM ing-xin， ZHOUGuo-xingz (1．CollegeofEarthSciences，JilinUniversity,JilinChangchun130026，China： 2．ShenyangInstituteofGeologyandMineralResources．LiaoningShenyang110032，China) Abstract：Sn in geologicalsampleswasdetermined by X—ray fluorescence spectrometry,a standard curvewas establishedbyusingmanualpreparedstandardsamplesandnationalstandardsamples．Theresultsshow that，thecurve gradientisuniform andreasonable，thelinearityisgood．Themethodusesaempiricalcoeffi cientmethodtocarryout matrixcorrection，andusesRhComptonscatteringasaninternalstandardtodetermineSningeologicalsamples，the detectionlimitcanreach3．59 g／g，andtherelativestandarddeviationofthesampleisabout3．1％ ，thetestresultsis idea1． Keywords：X—rayfluorescencespectrometry；Geologicalsamples；Standardsamples；0【empiricalcoefficientmethod； Comptonscattering 锡是一种重要的矿产资源，在化工、冶金等方 金属形成合金，具有延展性突出性质，因而锡在越 面有广泛应用。目前，化学制品领域对锡的需求量 来越多的行业具有使用前景。由于锡的广泛应用性， 持续增长。化工用锡主要集中在 5个方面：PVC热 决定了它在地质找矿中的显著地位。而对于锡的快 稳定剂、杀虫剂、催化剂、农业化肥和玻璃镀膜…。 速准确分析测试也应该引起足够重视。 俗称马口铁的钢铁镀锡板，产品附加值较高，因其