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微电子封装用SiCp/AI复合材料的中温钎焊

学兔兔 第15卷第3期 粉末冶金材料科学与工程 2010年6月 、,0l_l5 No.3 Materials Science and Engineering of Powder Metallurgy Jun.2010 — — 微电子封装用SiCp/AI复合材料的中温钎焊 常玲玲,何新波,吴 茂,曲选辉 (北京科技大学 材料科学与工程学院,北京 100083) 摘 要:选用A1一Ag—Cu和A1.Si.Cu.Ni两种钎料,分析钎料的熔化特性和微观组织,并分别用于钎焊化学镀Ni 后的SiCp/Al复合材料,研究其结合机理。结果表明,A1.Ag.cu和A1.Si.Cu-Ni都具有很好的熔化特性,熔点均 在520~530℃之间,具有很窄的熔化温度区间。用这2种钎料钎焊化学镀Ni后的SiCp/Al复合材料时,Ni镀层 与A1基体发生反应生成A13Ni和Al3Nj2化合物层,同时与钎料发生界面反应生成A1.Ni—Cu和A1-Ag-Cu等化合物, 从而保证钎焊接头牢固的连接。钎料中的Ag和cu元素穿过Ni(P)镀层,扩散到Al基体中,形成Al2cu、Ag2Al 等金属间化合物。 关键词:微电子封装;SiCp/Al复合材料;钎焊;金属问化合物 中图分类号:TN305.94 文献标识码:A 文章编号:1673.0224(2010)3.219.06 Brazing of SiCp/Al composites for microelectronic packaging CHANG Ling—ling,HE Xin—bo,wU Mao,Qu Xuan—hui (School ofMaterials Science and Engineering,University ofScience and Technology Beijing,Beijing 100083,China) Abstract:A1-Ag—Cu and A1-Si-Cu-Ni brazing alloys have been developed for brazing of SiCp/A1 composites coated by Ni.It is found that both of the two brazing alloys have the melting point in the region of 520-530℃ and a narrow melting temperature range.During brazing,the Ni layer reacts with A1 substrate and forms A13Ni and A13Ni2 compounds. Meanwhile,the Ni layer reacts wim the two brazing alloys and form s A1·Ni-Cu and A1一Ag—Cu compounds,which ensures a good bonding strength of brazing joint.It has been also found that the Ag and Cu elements penetrate through the Ni layer during brazing

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