USB接口内部结构IC.doc

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USB接口内部结构IC

USB接口电路 1、USB1.1协议对IO口直流特性的要求: 2、Virtex-5 IO: 1)LVTTL 直流特性 2)LVCMOS、LVDCI 和 LVDCI_DV2 直流特性: 4、USB1T11芯片: 通过查找资料在FPGA中用LVCMOS类型的IO口进行USB接口电路的代替。 TSMC IO Library中IO口的分析: TSMC IO库中有许多IO口类型,选择符合接口电路对IO进行版图提取并分析仿真其性能是否符合要求。 主要是分析一下IO library中的PRB24SDGZ IO口电路,PRB24SDGZ的结构图如下: PRB24SDGZ采用schmitt输入和三态输出结构,并且具有耐高压性能。 根据其所提供的版图提取出其电路原理图: 1 输入电路: 由上原理图左半部分可知,输入采用施密特输入结构,施密特输入结构可以提高噪声容限,PAD输入经过施密特后接3个非门结构,该结构的目的主要是讲PAD点的3.3v电平转化成芯片内部的供电电压1.8v,同时也起到提高驱动能力的作用。为了能够耐高压,该IO口电路采用了一种floating N-well结构: 上图中下半部分是输出驱动管,上半部分是Floating N-well结构,其工作原理是:当PAD点输入电压超过3.3+Vth时,M191和M192管子会反向导通,而M193管子截止,此时节点F_Nwell就会跟随PAD点的电压变化,与此同时,M194管子也会导通,是A节点的电压与PAD点的一样,保证了输出驱动管子M188的截止;但PAD电压小于3.3v,N-well又偏置在3.3v,所以该结构具有耐高压的作用。 2 输出电路: 由于芯片内部的core voltage是1.8v 输出的电平是3.3v,故IO电路采用了一种差动级联逻辑(DCVSL)设计的结构作为电平转换,其结构如下: 具体的工作原理是:两个输入为两个相反的输入电平,当IN=1时,OUT_n被拉低,使得M48管子导通,把Vout拉高,同时,M88和M49两个管子都是截止的,这样两个输入端就会达到0 V(低电平)和3.3 V(高电平)。 输出三态控制: 输出三态控制OEN经过一个非门然后分别与I进行与非和或非,最后驱动输出管子达到三态输出的功能,原理图的最后一部分是ESD保护,采用反偏的二极管和栅接地的MOS管进行ESD保护。 上面是对IO电路各个模块的分析,下面给出其功能仿真: 上图中的4个波形分别是:I 、C、PAD、OEN。 由图中可以看出当OEN有效时(OEN=0),PAD点的波形随I的变化而变化,此时C的信号也与PAD一样;而当OEN无效时(OEN=1),PAD点得波形不再随I的变化而变化,表现出高阻的状态。 从仿真结果与PRB24SDGZ datasheet的真值表对比可知所提取的原理图的功能是正确的。 3 POC电路: POC是用来防止IO输出不定态(当VD33上电而VDD还未上电时,IO可能输出不定态,这时POC为高电平,则可以使IO输出高阻)。 POC的工作原理是:当VDD未上电时,POC输出高电平信号,控制IO口电路,使其输出保持高阻状态避免不定态的出现。 其仿真结果如下: 红色---3.3 V 绿色---POC 橘红---1.8 V 由仿真图可以看出在1.8 V电压未供电时POC输出是高电平,当1.8 V供电时,POC输出是低电平。 PRB24SDGZ IO电路后仿结果:(图中曲线分别为Voen Vi Vpad Vc) OEN低电平有效时: TT 工艺角: 芯片核心输入I到PAD的延时为Tdelay_max = 7.3436ns;Tdelay_min=7.2034ns。 PAD的上升时间:T_rise_min=4.615ns T_rise_max=4.8167ns 下降时间:T_fall_min=4.523ns T_fall_max=4.5845ns SS工艺角: 芯片核心输入I到PAD的延时为Tdelay_max = 8.2737ns;Tdelay_min=8.091ns。 PAD的上升时间:T_rise_min=5.1581ns T_rise_max=5.4275ns 下降时间:T_fall_min=4.5317ns T_fall_max=4.5603ns FF工艺角: 芯片核心输入I到PAD的延时为Tdelay_max = 6.4762ns;Tdelay_min=6.4488ns。 PAD的上升时间:T_rise_min=4.2995ns T_rise_max=4.3308ns 下降时间:T_fall_min=4.5816ns T_fall_max=4.6021ns SF工艺角: 芯片核心输入I到PAD的延时为Tdelay_max = 7.1599ns;Tdelay_

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