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光吸收定律 a) 中性火焰：这类火焰，温度高、稳定、干扰小、背景低，适合于许多元素的测定。 b) 富燃火焰：还原性火焰，燃烧不完全，温度略低于中性火焰；具有还原性；适合于易形成难解离氧化物的元素测定；干扰较多；背景高。 c) 贫燃火焰：氧化性火焰；它的温度较低，有较强的氧化性，有利于测定易解离，易电离元素，如碱、碱土金属。 塞曼(Zeeman)效应背景校正法 (二)背景干扰和抑制 1．光谱背景 原子吸收光谱分析中的背景干扰主要是指原子化过程中产生的分子吸收和固体微粒产生的光散射干扰效应。背景干扰往往使吸光度增大，产生正误差。分子吸收是一种宽带吸收，产生的背景干扰比较严重。在火焰中固体微粒对共振线的散射造成假吸收，称为光散射干扰。当吸收线在短波时，并且基体浓度很高时，光散射干扰越显严重。 2．光谱背景干扰的抑制和校正 (1)光谱背景干扰的抑制 在实际工作中，多采用改变火焰类型、燃助比和调节火焰观测区高度来抑制分子吸收干扰；在石墨炉原子吸收光谱分析中，常选用适当基体改进剂，采用选择性挥发剂抑制分子吸收的干扰。 (2)光谱背景的校正 在原子吸收光谱分析中，校正背景的方法有仪器调零吸收法、邻近线校正背景法、氘灯校正背景法和塞曼(zeeman)效应校正背景法。 氘灯校正背景装置如图4—l4所示。采用双光束光路，氘灯光束为参比光束。氘灯是一种连续光谱，切光器使入射强度相等的锐线辐射和连续辐射交替地通过原子化吸收区。用锐线光源测定的吸光度值为原子吸收和背景吸收的总吸光度，而用氘灯测定的吸光度仅为背景吸收值。仪器上直接显示出两次测定的吸光度之差，即是经过背景校正(扣除背景)后的被测定元素的吸光度。 缺点：范围窄。350nm以下波段。 Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象； 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收； 见图4-15。 方式：恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。 优点：校正能力强（可校正背景A　1.2-2.0）； 可校正波长范围宽：190-900nm ； * 第四章 原子吸收光谱法与原子荧光光谱法 第一节 原子吸收光谱法 原子吸收光谱法(Atomic Absorption Spectrometrv，AAS)也称原子吸收分光光度法。它是根据物质的基态原子蒸气对特征辐射的吸收作用来进行元素定量分析的方法。 原子吸收分光光度法测量的是气态基态原子对电磁辐射的吸收，这种吸收为窄带吸收，提供电磁辐射的是锐线光源。 共振吸收线是元素的特征谱线，在原子吸收光谱分析中，常用元素最灵敏的第一共振吸收线作为分析线。因此，原子吸收光谱分析法是基于元素的基态原子蒸气对同种元素的原子特征谱线的共振吸收作用来进行定量分析的方法。 原于吸收光谱分析的基本过程 测定试样中某元素含量时，用该元素的锐线光源发射出特征辐射，试样在原子化器中被蒸发、解离为气态基态原子，当元素的特征辐射通过该元素的气态基态原子区时，元素的特征辐射因被气态基态原子吸收而减弱，经过色散系统和检测系统后，测得吸光度，根据吸光度与被测定元素的浓度线性关系，从而进行元素的定量分析。 气态原子 锐线光源 分光系统 检测器 基态原子数与原子化温度的关系 Boltzmann方程：在某温度下，被激发的原子个数所占总原子数的比例 在相同温度下，Ei小的元素，Ni/N0较大； 表4-1，几种元素共振线不同温度时的Ni/N0值。 吸收线的轮廓与变宽 无论是原子发射线还是原子吸收线都具有一定的形状，即谱线有一定的轮廓。吸收线的轮廓是指谱线强度Iυ，或吸收系数Kυ，与频率υ的吸收曲线，如图所示。吸收线的轮廓以吸收线的中心频率υ0，(或中心波长λ0)和半宽度Δυ (或Δ λ)来表示。中心频率对应的吸收系数K0，称为峰值吸收系数。在吸收线轮廓上，峰值吸收值一半处的频率或波长称为吸收线的半宽度，简称为吸收线宽度，原子吸收线的宽度约为10-3一10-2 nm。 （1）自然宽度 在无外界条件影响时，谱线的固有宽度称为自然宽度，与激发态原子的平均寿命有关。它与谱线的其它变宽宽度相比，自然宽度可以忽略不计。 （2）多普勒变宽 由于辐射原子处于无规则的热运动状态，与观测器两者间形成相对位移运动，从而发生多普勒效应，使谱线变宽。是谱线变宽的主要因素。 （3）碰撞变宽 碰撞变宽是由同种辐射原子间（Holtsmark）或辐射原子与其它粒子间(Lorents)相互碰撞而产生的，可与Doppler变宽同数量级。碰撞又称为压力变宽。 谱线的变宽往往会导致原子吸收分析的灵敏度下降。