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汽车行业质量体系系列培训教材 统计过程控制 Statistical Process Control 课程内容 统计学基本概念 持续改进及统计过程控制概述 SPC基础 计量型数据控制图 计数型数据控制图 统计学基本概念 统计技术 定义：是以概率论为基础的一门应用数学的分支，包括统计推断和统计控制 (1)统计推断：根据收集的数据(样本量)的分析可统计计算所得的特征值，对事物进行预测和推断的技术。(如：统计抽样GB2828) (2)统计控制：根据收集的数据(样本量)的分析可统计计算所得的特征值，对事物进行预测和控制的技术。(如：统计过程控制SPC) 随机现象 现象包括：确定现象和不确定现象 随机现象定义：是在大量重复的实验中具有统计规律的不确定现象。 不确定现象：结果是不确定(N??)。 确定现象：结果是肯定的。 随机分布 定义：是指质量特性的数据分布所符合的某种规律。 随机分布是正态分布、卡方分布、t分布和F分布等。自然界中大量的随机变量都服从或近似服从正态分布。 分布 分布(distribution)：用来描述随机现象的统计规律，说明两个问题：变异的幅度有多大；出现这么大幅度的概率。 计量特性值：如厚度、重量或时间等连续性数据，最常见的是正态分布(normal distribution)。 计件特性值：如合格/不合格两种离散性数据，最常见的是二项分布(binomial distribution)。 计点特性值：如每条内存上少锡点数等离散性数据，最常见的是泊松分布(Poisson distribution)。 由于二项分布和泊松分布数据数理统计理论较复杂，以下讨论以正态分布为例。 正态分布 直方图(histogram)：在横轴上以样本数据每组对应的组距等距离线段为底，纵轴表示样本数据落入相应直方组的频数的n个矩形所组成的图形。如100条PCB金手指厚度，标准50?3.94。 正态分布 正态分布：直方图所取得数据越多，分组越密，则直方图就越趋近一条光滑的曲线。 正态分布 正态分布的概率分布： μ± σ…………68.27% μ±1.645σ…………90% μ±1.96 σ…………95% μ±2 σ…………95.44% μ±3 σ…………99.73% μ±6 σ…………(1-3.4PPM)? 平均值、标准差对正态的曲线的影响 若平均值增大，则正态曲线往右移动，见? 若平均值减小，则正态曲线往左移动，见? 正态分布平均值与标准差的关系 平均值与标准差是相互独立的。无论平均值如何变化都不会改变正态分布的形状，即标准差?；无论标准差如何变化，也不会影响数据的对称中心，即平均值?。 ?、?变化示意图 ?、?变化示意图 ?、?变化示意图 变 异 误差 ?=X-X0 偶然性误差：误差大小和方向的变化是随机的。 系统性误差：误差大小和方向的变化保持不变或按一定规律变化。 过程控制中常用精度这个概念来反映质量的波动（变异）程度。 精 度 精度又可分为： 准确度(Accuracy)： 反映系统误差的影响程度； 精密度(Precision)： 反映偶然误差的影响程度； 精确度(Uncertainty)： 反映系统误差和偶然误差综合的影响程度 精度的概念 持续改进及统计过程控制概述 预防与检测 过程控制系统 变差：普通原因及特殊原因 局部措施和对系统采取措施 过程控制和过程能力 过程改进循环及过程控制 控制图：过程控制工具 控制图的益处 持续改进及统计过程控制概述之一预防与检测 过程控制的需要 检测—容忍浪费 预防—避免浪费 持续改进及统计过程控制概述之二过程控制系统 持续改进及统计过程控制概述之三变差的普通原因及特殊原因 变差：一个数据组对于目标值有不同的差异。 变差的普通原因：指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布作用在过程的许多变差的原因，即常规的、连续的、不可避免的影响产品特性不一致的原因。如操作技能、设备精度、工艺方法、环境条件。 变差的特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，当原因出现时，将造成过程的分布的改变，即特殊的，偶然的，断续的，可以避免的影响产品特性不一致的原因。如：刀具不一致、模具不一致，材料不一致，设备故障，人员情绪等。特点：不是始终作用在每一个零件上，随着时间的推移分布改变。 普通原因和特殊原因变差的分析 当过程仅存在变差的普通原因时，过程处于受控状态，这个过程处于稳定过程，产品特性服从正态分布。 当过程存在变差的特殊原因时，这时输出的产品特性不稳定，过程处于非受控状态或不稳定状