X-射线荧光分析法理论基础(中文).ppt

由于Ni-Ka被 Fe大量吸收， Fe-Ni 的双重Ni校正曲线向下凸起。 吸收效应 在Fe-Cr 2元系的Cr校正曲线中，1次X射线在样品中发生的Fe-Ka使样品中产生Cr-Ka，Cr-Ka被强化，形成向上凸起的校正曲线。 激发效应 注意！ 吸收效应和激发效应相互作用。 从分析谱线的旁边选择内标元素谱线 内部标准元素谱线和分析谱线分别用K线和L线表示 样品制作实例 样品　　　　　　　8g Co2O3　 　　　　1g 黏合剂　　　1g n-乙烷　　25ml 粉碎 铁矿石中的Fe校正曲线 分析谱线：Fe-Kβ1 内部标准谱线：Co-Kα 内标法 污水中的有机物会产生30～80%的变化 需要校正有机物产生的影响 散射线校正法Ⅱ P-Ka和Mo-Ll线的重叠 lj ：重叠校正常数 wj：干扰元素的含量 Mo0wt%的 校正曲线 重叠校正法 ①样品架 ②X射线光管 ③一次狭缝 ④分光晶体 ⑥闪烁计数器(SC) ⑤比例计数器(PC) ⑦初级滤光片 ⑧限制视野光阑 ⑨衰减器 X射线荧光分析仪的结构图 比较X射线光管的结构 侧窗 端窗 比较X射线光管的接地及铍窗厚度 X射线光管的比较 Rh光管 对比S的原子序号小的元素灵敏度高 对重元素也有较高的灵敏度 W,Mo光管 用于重元素，Mo光管用于Hg,Pb,As等公害分析 Cr光管 用于轻元素 比较各种X射线光管的X射线强度 K系列 L系列 M系列 Kα1,Kβ1,Kβ2　… Lα1, Lβ1, Lβ2　… Lγ1　… Ll, Lη Mα,Mβ,Mγ Moseley法则 Z：原子序号，λ：荧光X射线的波长，C,σ：常数 各种元素的特性X射线 荧光X射线的发生 ①样品架 ②X射线光管 ③一次狭缝 ④分光晶体 ⑥闪烁计数器(SC) ⑤比例计数器(PC) ⑦初级滤光片 ⑧限制视野光阑 ⑨衰减器 X射线荧光分析仪的结构图 （A，B的X射线的通过距离之差） 如图所示，波长为λ的X射线照入时 (n=1,2,3....n) 以上关系成立时，X射线被反射 （布拉格反射式） d（面间隔） 原子 反射面 d sinθ d sinθ θ θ 布拉格(Bragg)反射 分光晶体：LiF(200)　2d=4.028? 计算 布拉格条件 Fe-Kα的λ：1.938? LiF的2d：4.028? 一次射线　n=1 元素和衍射角 ①样品架 ②X射线光管 ③一次狭缝 ④分光晶体 ⑥闪烁计数器(SC) ⑤比例计数器(PC) ⑦初级滤光片 ⑧限制视野光阑 ⑨衰减器 X射线荧光分析仪的结构图 ：最好 ：好良 ：可以使用 不同元素对应的分光元素（晶体） ①样品架 ②X射线光管 ③一次狭缝 ④分光晶体 ⑥闪烁计数器(SC) ⑤比例计数器(PC) ⑦初级滤光片 ⑧限制视野光阑 ⑨衰减器 X射线荧光分析仪的结构图 X射线 发光体（NaI） 阴极 阳极 倍增器电极 铍窗 遮光材料 光电倍增管 记数电路 电子脉冲 闪烁计数管(SC) X射线 分析窗 Ar→Ar++e- 气体入口（PR气体） 芯线（阳极） 气体出口 GDS：气体浓度稳定器 当分辨率降低时， 清洗芯线后， 分辨率即可恢复。 不好的微分曲线 好的微分曲线 比例计数管（PC） ①样品架 ②X射线光管 ③一次狭缝 ④分光晶体 ⑥闪烁计数器(SC) ⑤比例计数器(PC) ⑦初级滤光片 ⑧限制视野光阑 ⑨衰减器 X射线荧光分析仪的结构图 从Si-Kα的分析中去除Fe-Kβ1(4th) 波高分析器(PHA)的原理 波高值（ＰＨ）和能量（Ｅ） 及ＧＡＩＮ（Ｇ）的关系 K：常数 Ｇ按下图所示与测角仪联动， 可保持一定PH。 ２θ联动装置 能量分辨率　R W　：　半价幅 PH　：　脉冲高度 检测器的能量分辨率 カウント数 目录 1 . X射线荧光分析的原理 2 . 定性分析 3 . 定量分析 4 . FP(基础参数)法 5 . 样品处理法 注1．Cu～Ti等元素用Vac法测定时，X射线的强度增强1.5～5倍。 注2．P,S元素用分光晶体Ge和PET都可测定，但Ge的灵敏度高，不受2次射线的影响。 分析条件 X射线光路的透过率 *) Rh/Cr为双靶用 **) 装备LiF3的情况 定性条件，标准测试条件一览表 定性分析图表的解析程序 鉴别所用X射线光管产生的特征X射线和康普顿散射线。 从谱图上读出强度最大的谱峰角度（2θ），上谱线名称。 在图表中找出全部标注元素的谱峰(包含Ka,Kb及La,Lb,Lg高次射线)，注上谱线名称。 为分析剩余谱线，常需要与样品相关的资料。 康普顿散射线 伴线峰 注意！ 注意区分康普顿散射线和伴线峰。 干扰谱线举例 Pb-Lβ +Se-Kβ Hg-Lβ +Br-Kβ As-Kβ As-Kα +Pb-Lα W-Lγ2 W-Lγ1 W-Lβ2 Hg-Lα Se-Kα W光管的特