基于电容和电导特性分析！#蓝光发光二极管老化机理！.PDF

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 ( ( ’%%) ( ， ， ， 4F; 2( -F 2 ( 7GIR ’%%) （ ） $%%%1’)%K’%%)K( %( K*%%1% 7LM7 N8OPQL7 PQ-QL7 ’%%) LH:D 2 NHI 2 PFC 2 基于电容和电导特性分析!# 蓝光 发光二极管老化机理! ! 陈焕庭 吕毅军 陈 忠 张海兵 高玉琳 陈国龙 （厦门大学物理系，福建省半导体照明工程技术研究中心，厦门 #$%% ） （ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿） ’%%( ) * ’%%) $ ’$ 采用正向交流小信号方法测试和分析老化前后 发光二极管（ ）的电容 电压特性，结合串联电阻、理想 +,- ./0 1 因子、隧穿电流参数讨论负电容以及电导变化情况 基于 曲线定性分析老化前后负电容的阈值电压，老化之后 2 !1 样管的受主浓度降低，辐射复合概率下降，大量缺陷以及非辐射复合中心出现，对载流子俘获作用增强，造成负电 容降低2 反向偏压以及小正向偏压下，隧穿效应导致老化之后样管的电导增大；正向偏压大于’ 3’ 4 区域，考虑串联 电阻效应，老化后样管电导减小 在分析 电容 电压、光输出、电学特性曲线与老化机理基础上，通过实验论证 2 ./0 1 以及理论解释表明，负电容以及电导特性可作为分析./0 老化特性的参考依据2 关键词： 发光二极管，负电容，电导，老化机理 +,- ： ， ， ， $% *’(%/ *5%/ *#%6 *(#6 化前后 的电容 电压特性进行了测试和分 +,- ./0 1 $3 引 言 析，观察经过老化之后负电容、电导变化情况，并结 合 ， 曲线对其物理机制进行了理论分析和实 #1 !1 很多研究已经证实，发光二极管（ ）在老化 验论证 ./0 2 ［— ］ 过程中将导致芯片、封装、荧光粉区域失效$ 2 ./0 老化实验条件普遍为施加电应力、热应力，由于不同 ’ 3 实 验 材料热膨胀系数之间差异和缺陷生长，导致./0 光 ［］ 通量的衰减5 ，主要的老化机理包括暗点缺陷、金属 样