CX118A型晶振测试仪资料.doc

CX118A 型晶振测试仪 1．概述 CX118A 型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用 倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可 选；具有频率测量、周期测量、PPM 测量、分档测量、上下限测量、累加计数 等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值 Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率 FU、下限 频率 FL 可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适 合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之 用。 2．主要特征 2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量， 测量速度快，灵敏度高。 2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的 可靠性和优良的性能／价格比。 2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD 器件的运用，使仪器元器件大为减 少，可靠性有了很大的提高，平均无故障工作时间≥10000h。 ? 整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。 3．技术参数 测量范围 ? 频率测量：A 通道:1Hz～100MHz； B 通道:100MHz～1.6GHz(选件) ? 周期测量：A 通道:10ns～1s ? PPM 测量：9999～9999ppm ? 上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数 FU、下限参数 FL 来测量被 测频率是否超出上、下限，超限则报警。 ? 分档测量：根据用户所设定的中心频率 F0 自动进行分档测量。 分档值： Pr1～Pr8 可在 1～999ppm 之间任意设置 分档档数：以中心频率 F0 为中点左右分成 16 档 ? 累加计数：计数容量：0～109－1 (选件) 计数方式：键控、门控或外门控可选。  输入特性 ? 输入阻抗： A 通道: 1M //40pF B 通道: 50 输入耦合方式：AC 波形适应性：正弦波、脉冲波 ? 输入电压动态范围: A 通道：30mVrms～250Vp～p B 通道: 30mVrms～1Vrms A 通道低通滤波器：－3dB 带宽约 100kHz A 通道衰减：×1 或×20 测量误差 频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD 100ns 其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期） 闸门时间 触发误差：当被测信号的信噪比为 40dB 时，触发误差≤0.3% ? PPM 测量误差：±时基误差±触发误差±LSD 其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×106ppm 例如：闸门时间=1s 时 LSD＝0.1ppm 闸门时间=0.1s 时 LSD＝1ppm 计数误差：±1 闸门时间 固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选； 可调闸门：50ms～95ms 分 10 档，每档间隔 5ms。  晶体振荡器 标称频率：10MHz 频率稳定度：5×106/d （可根据用户需求，选配更高量级的晶振。 如：1×106/d、5×107/d、1×107/d 等）。 外频标输入 输入频率：10MHz 输入幅度：1Vp～p 正弦波 显示 13 位 0.4 吋绿色高亮数码管，三个单位 LED 指示灯（MHz、kHz、Hz）， 一个闸门 LED 指示灯(GATE)，一个外频标 LED 指示灯(EXT)和一个 PPM 单位指 示灯（PPM）。 电源 电压：交流 220V±10% 频率：50Hz±5% 功耗：8VA 外形尺寸：230×250×90(mm) 质量：1.5kg 晶振测试盒选配： 晶体测量匹配器： 1Hz-20MHz （标配） 20MHz-40MHz , 40MHz-65MHz 65MHz-100MHz .