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霍尔效应实验原理
霍尔元件的研究与应用
实验目的
实验原理
实验仪器及图片
实验要点
数据处理
实验目的
1. 了解霍尔效应的性质。
2. 利用霍尔效应测量螺旋管中磁场的分布。
实验原理 Z
如图(一)所示建立坐标系。将一厚度为 d、宽度
l B
为 b、长度为 的导体置于磁场中,并使其平面与磁场垂
直。沿 x 轴方向给导体加上工作电流I,设导体的载流
e v I
子为正电荷 ,漂移速度为 ,则载流子在磁场中受洛 3
仑兹力的作用,其大小为: Y
fB fE
f evB (1) 1 2
B
在f B 的作用下,电荷将在两侧堆积,从而形成一横向电 b v l
场,使载流子又受到电场力的作用,其大小为: d
4
f eE (2)
E X
由于f E 方向与f B 方向相反,将阻碍电荷的进一步堆积, 图一 实验原理图
最终达到平衡,即:
f E f B (3)
此时薄片中横向电场强度为:
E f B f
E vB (4)
e e
横向电场在 1、2 两点之间产生的电势差(即为霍尔电压)为:
V Eb vbB (5)
H
由于工作电流与载流子浓度、漂移速度及薄片的截面积之间有关系:
I nevbd (6)
IB
则 V (7)
H
ned
1 1
取 RH K H (8)
ne ned
V K IB
则霍尔电压: (9)
H H
式中RH 称为霍尔系数。K H 称为霍尔片的灵敏度,它表示该组件在单位磁感应强度和单位工作电流时霍
尔电压的大小。
式(8)和(9)对大多数金属是成立的。但对霍尔系数比金属高得多的半导体来说,是不准确的。考
虑载流子速度的统计分布规律,并考虑到非低温条件下晶格振动对散射起主要作用的特点,则有
3π 1
K
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