Agilent_3070_系统介绍课件.ppt

Agilent 3070 系统介绍  软硬件综述 概要 Part 1 3070系统介绍 Part 2 3070硬件综述 Part 3 3070 软件综述 Part 4 基本的测试原理 Part 1 3070系统介绍 概要 在线测试（ICT）在产线中的位置 ICT基本测试原理 Agilent 3x7y 系列 测试界面 – 夹具 安全事项 测试程序开发流程 测试工具 在线测试（ICT）在产线中的位置 Agilent 3070基本测试原理 Agilent 3070基本测试原理 通常是PCB板安装完成后的第一次电学测试 通过检测PCBA上的单个或多个元器件来 验证器件值 检查器件安放位置 确认电路连接 查找PCB制造中的缺陷（短路，开路，错件及零件错位等） 常见制造缺陷 焊点短路 常见制造缺陷 焊点开路 常见制造缺陷 零件安装错位 常见制造缺陷 零件翘起 在线测试功能(Summary) 模拟器件测试 上电测试 数字测试 局部的功能测试 精确测试 特殊测试 Agilent 3x7y 系列 Agilent 3x7y 系列 Agilent 3x7y 系列 3070 3x71-unpower or limited power system 3x72-Process Test System 3x73-Incircuit Test System 3x74-Functional Test System 3x75-Combination Test System 3x79-Telecommunacations Test System 测试界面 – 夹具 短线夹具的结构 为什么选用短线夹具 安全事项 测试程序开发流程 测试工具 Part 2 3070硬件综述 Outline Agilent 3070 的结构 DUT Power Supply Testhead Module Designations Cards in Testhead Mother Card Module Control Card ASRU Card Pin Card Anatomy of Agilent 3070 Anatomy of Agilent 3070 (Cont.) DUT Power Supplies Testhead Module Designations Cards in the Testhead Mother Card Module Control Card Analog Stimulus-Response Unit (ASRU) Card Pin Cards Mother Card 提供系统内部板卡的DC电源 Supplies DC power 分配电信号到指定的 Module Control Card 解析地址 Decodes address Mother Card (Cont.) Module Control Card 控制实际的测试过程 程序自动读取码 (Autofile Code) 带有8个通用开关 (GP Relay) 必须放在每个module的第 6 槽位 四种类型: Control Card ControlPlus Card Control XT Card Control XTP ASRU Card 提供正确的激励信号 Applies the appropriate stimulus 使用测量运算放大器进行电压信号的测量 Makes a voltage measurement with MOA (Measuring Operational Amplifier) 提供直流点信号和波形发生器 Provides DC source and a waveform generator 分配在1号槽 Resides in slot 1 有 A, B, C 三个版本 Pin Card Hybrid Double Density Card Hybrid32 Card ChannelPlus Card (No longer available, but still supported) AccessPlus Card AnalogPlus Card Serial Test Plus Card (STC+) Hybrid Double Density Card Hybrid32 Card Part 3 3070 软件综述 概要 标准测试流程 软件综述 BT-Basic及相关命令 3070操作步骤 测试原理 标准测试流程 软件综述 BT-Basic界面 快捷键 F1 – Edit / Command F2 – Recall Plus F3 – Recall Minus F4 – Execute F5 – Mark / Second Ma