实验22原子发射光谱摄谱法定性分析合金中的元素.docx

实验22 原子发射光谱摄谱法定性分析合金中的元素一、目的 掌握原子发射光谱分析摄谱法的电极制作、摄谱、冲洗感光板等基本操作。掌握用铁光谱比较法定性判别未知试样中所含的元素，并估计其相对含量。 二、内容提要 在原子发射光谱分析中，将试样引入激发光源，当外界给以一定能量时，试样被蒸发分解成气态原子（或离子），一部分原子（或离子）的外层电子被激发至高能态。处于激发态的原子（或离子）很不稳定，当其跃迁至低能态或基态时，会发射出紫外和可见区的特征辐射，由光谱仪器分解为光谱，辨认特征波长谱线的存在情况可以进行定性分析，测量特征波长谱线的强度可以进行定量分析。该分析方法主要用于金属元素的分析（非金属元素不易激发）。它已普遍地应用于矿物、金属、半导体材料等试样中的杂质分析。 将样品光谱按波长顺序记录在感光板上，称为摄谱法。根据记录下来的光谱，进行定性或定量分析。发射光谱摄谱法分析的优点是灵敏度高，对大部分元素可测至l0-3%～10-4%，快速简便，一般样品不需任何处理，可同时分析许多元素；元素含量在0．OOO1%～0.l%时，结果可靠性优于一般化学分析；取样量少，一般只需数毫克至数十毫克。然而，它的缺点是在摄谱时，实验条件苛刻，某些条件往往难以控制，影响分析结果的准确度。实际工作中使用电感耦合等离子体光源的光电接收光谱仪器，可得到更准确、更灵敏的定量结果，但摄谱法作为金属元素的定性分析手段仍有自己的特点。各种元素因其原子结构不同而有着不同的光谱。因此，每一种元素的原子被激发后，只能辐射出特定波长的光谱线，它代表了元素的特征，这是发射光谱定性分析的依据。 然而，从一个元素可以获得许多条谱线，各条谱线的强度也不相同。当元素的含量降低时，光谱中强度弱的谱线相继不能被检出而消失，最后消失的几条谱线叫做最后线，也即灵敏线。最后线是检出限量最低的谱线。每种元素有它自己的最后线。定性分析时，只要检查光谱中的几条最后线（一般2～3条）是否出现，它们的强度比是否与谱线表所示相符，就可判明元素存在与否，因此，这些谱线有时也称为分析线。在228.0～460.0 nm范围内各种元素的主要分析线见表5—2。至于其他一些灵敏度较次的谱线出现，可不去理会它。如该元素存在，那末最后线必然出现。如该元素的最后线不出现，那末这些灵敏度较次的谱线就不可能出现，这时若在灵敏度较次的谱线位置上出现了谱线，则可能是由其他元素谱线的干扰而引起的。 事实上，由于试样中许多元素的谱线波长相近，而摄谱仪及感光板的分辨率又有限，在记录到的试样光谱中，谱线会相互重叠，发生干扰。当需要确证某一种元素的分折线是否受到干扰时，首先要判明干扰元素是否存在（可检查干扰元素的最后线出现与否）。当一条分析线确实受到干扰时，可以根据别的分析线来确定该元素是否存在。定性分析中通常按谱线强度级别来估计含量，方法是在被估计元素所出现的谱线中，找出其谱线强度级最小的级次，由表5-1列出的数值估计该元素的百分含量，一般要求估计准确度在一个数量级以内。 例如，铝的分析线308.2 nm及309.2nm，谱线强度级为8、9。若光谱上两条线都出现，且309.2 nm线比308.2 nm线略强或接近，通常可以得出铝存在的结论。若309.2 nm线很弱，而308.2 nm线不出现，这也是正常的，得出含有痕量(0.001%)铝存在的结论。若两条谱线之中一条很强，而另一条根本不出现，则对出现的一条线不能确信是铝的谱线，而可能是其他元素的干扰线。 摄谱法定性分析的方法，通常是将细粒或粉末试样装载在光谱纯石墨电极的孔穴内（棒状金属、合金试样可做成“自电极”），在电弧或火花光源中，试样的各种组分先后蒸发到弧焰中成为单个原子或离子、分子，并被激发而发光，经光谱仪分解为光谱而被感光板记录下来。用哈特曼( Hartmann)光栏将铁光谱并列拍摄在试样光谱的旁边。因为铁的光谱含有许多相距很近的谱线，且每一条谱线的波长已经过精确的测定，可以用作测量元素谱线的标尺。 记录有光谱的感光板在光谱投影仪上放大20倍，使感光板上的铁光谱与元素光谱图片上的铁光谱重合，就可以方便地从元素光谱图上标记的谱线来辨认摄得的试样谱线。实验内容：1)判明未知金属或合金的组分及估计其含量，如铅合金、锡合金、焊锡、保险丝、黄铜、铝、镁。 2)检查某矿物中的指定元素，如铝矿中的镓。 3)检查某纯金属材料中的杂质元素，如铝材。 三、仪器和试剂 摄谱仪 WPG-100型平面光栅摄谱仪，狭缝6um，中心波长300 nm 光源 屑粒状、粉末状试样用交流电弧，棒状金属试样用火花 电极 光谱纯石墨电极（下电极有孔穴，孔穴内径3.5 mm，深4 mm，壁厚1 mm；上电极圆锥形） 感光板 天津