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表面活性剂浓度对介孔二氧化硅形貌的影响
21 1 ( ) Vol. 21 o. 1
2007 1 JOUR AL OF U IVERSITY OF JI A ( Sci. Tech1) Jan.2007
: 1671- 3559(2007) 01- 0093- 01
表面活性剂浓度对介孔二氧化硅形貌的影响
1 2
党文修 , 韩书华
( 1. , 250014; 2. , 250100)
: 以十六烷基氯化吡啶(C PyCl) 为模板剂, 正硅酸四
16 m(C PyCl)Bm(TEOS) = 1B20, 1B10, 1B5, 1B2
16
乙酯(TEOS) 为硅前驱体, 甲酰胺为助溶剂, 在酸性条件 合 SEM
成了不同形状的纳米介孔二氧化硅, 并使用扫描 电镜 1 ,
( SEM)小角X 射线衍射( SXRD) 和 气体吸附技术对其进
2 C PyCl ,
16
行了表征结果表明合成样品具有MCM- 41 的有序六方孔
,
道结构,煅烧样品的吸附测量显示典型的IV 型吸附等温线
, ,
和H1型滞后环, 孔径分布较窄随着C PyCl 浓度的增加,
16
产物形貌由不规则的螺旋球逐渐过渡到表面光洁的多面体 , ,
C PyCl
形状 16
:介孔材料; 形貌; 表面活性剂; 二氧化硅 ,
:O613.72 :A ,,
C PyCl ,
16
C16PyCl- TEOS- HCl- HCOCH3 - H2O , ,
1 SXRD 2 MCM- 41
,-
IV H1,
Effect of Template Concen
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