基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试.pdf

电子工业专用设备 !#$%’() *+, !-’.),+($. /,+0#.)1 23(#*3.)#,$(4 56 芯片测试 基于Quartet 测试系统的高速 DAC 芯片测试 赵步云，管杰，戴昌培 （北京半导体行业协会测试中心，北京!） 摘 要：介绍了通用 ’() 芯片的主要测量参数及其测试方法。并以 %*+,- 高速’() 芯片 ./0$12% 为例，利用)3454674 公司的数模混合信号测试系统89:3-4- 实现对高速数模转换芯片进 行测试。 关键词：高速数模转换器芯片； 任意波型产生器#模拟捕捉器； 数模混合信号芯片测试 +,-- * .$.#%/!#0’$1%$- 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： ’1)$(4 +* ?$4@ A%’’0 9;6 6@$%1’) BC #1$(4 ’1) AC1)’ D#3,)’) 23*4 56$768 9:*, ;= (* ?@A8B$C= ， ， +=DE8B F=8E=G HI 5=J8B K=LFH8M6FEHG *DDHFAEH8 5=J8B （ ， ） ;B1),3.) 8EGHM6F= E@= CAGAL=E=G A8M E=DE E=F@8HNHB7 HI FHLLH8 (*?O *8M 8 E@D CAC=G PNN 8EGHM6F= ： @HQ EH 6D= E@= E=DE D7DE=L R6AGE=E EH E=DE @B@ DC==M LS=M DB8AN F@CD=E T7 6D8B KU#’- ! $TE 1VKWX ?V4KX @B@ DC==M ()* FH8Y=GE=GO E’CF+,0 3B@ DC==M ()* FH8Y=GE=GZ *[9)*?WZ +=DE8B HI LS=M DB8AN F@CD=E ： 7 8 9:; .+(’,)’, 换器性能优劣的主要标志。 数 模转换器（ ） ()* 转换器的主要技术参数可分为静态参数 7=7 9:; 转换器主要技术参数 和动态参数，它们用来描述()* 转换器的转换精 ()* 度、转换速度及温度特性。 为了保证数据处理结果的准确性， 转换器 必须有足够的转换精度。同时，为了适应快速的过 ()* 转换器的转换精度通常用分辨率和转换误 ()* $ 与 ()* 差来描述。 转换器选定的转换基准电压 % 程控制和检测需要， 转换器还须有足够快的转 ’ 换速度。因此，转换速度和转换精度是衡量()* 转 最大输入码! $ 之比，称为分辨率。 !#$%$’ 收稿日期： 作者简介：赵步云，本科，工程师，毕业于清华大学微电子所，从事集成电路测试工作。 !#! ##$ % 37