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SPC培训讲义 编写：刘东兴 讲解：刘东兴 2001年8月26日 统计过程控制（SPC） 1、基本统计概念 2、过程控制和过程能力 3、过程变差 4、控制图 基本统计概念 基本统计概念 统计学（Statistics） 收集、整理、展示、分析解释统计资料 由样本（sample）推论母体群体（population） 能在不确定情况下作决策 是一门科学方法、决策工具 基本统计概念 统计量 R 全距（range） 算术平均数（artithmetic mean） Md 中位数（median） Mo 众数（mode） 方差/变异（variance） 标准差（standard deviation） 基本统计概念 R 全距（range） 全距是指一个变量数列中最大标志值与最小标志值之差。因为它是数列中两个极端值之差，故又成为极差。 R＝Xmax－Xmin 统计基本概念 算术平均数（artithmetic mean） 基本统计概念 Md 中位数（median） 将总体单位数量标志的各个数值按照大小顺序排列，居于中间位置的那个数值称为中位数。 当资料项数n为奇数，数列中只有一个居中的标志值，该标志值就是中位数。 当n为偶数时，数列中有两个居中的标志值，中位数便是中间两个标志值的简单算术平均数。 基本统计概念 Mo 众数（mode） 众数是总体中出现次数最多或最普遍的标志值，即频次或频率最大的标志值。数列中最常出现的标志值说明该标志值最具有代表性。 基本统计概念 方差/变异（variance） 基本统计概念 标准差（standard deviation） 基本统计概念 例： 1,1,2,3,4,6,11 R=10 Md=3 Mo=1 练习 数列：12，11，12，13，18，30，24，9 请计算下列统计量： R Md Mo 数据的收集与整理 数据收集 为找出这些数据的统计规律将它们分组、统计、作直方图，如机螺丝直径直方图所示。图中的直方高度与该组的频数成正比。 各组的机会率 过程变差 过程变差 输入材料 不同批次之间的差异 批次内的差异 随时间产生的差异 随环境产生的差异 过程变差 生产/装配 设备及工装夹具的差异 随时间而产生的摩损，漂移等 操作工之间的差异（如手工操作的过程） 设置的差异 环境的差异 测量系统的变差 量具精确度（偏差） 量具精确度是指测量观察平均值与真实值（基准值）的差异。 真实值由更精确的测量设备所确定 测量系统变差 量具重复性 量具重复性是由一个操作者采用一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。 测量系统变差 量具再现性 量具再现性是由不同的操作者，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 测量系统变差 量具稳定性 量具稳定性是同一测量系统在不同时间测量同一零件时，至少两组测量值的总变差。 测量系统变差 量具线性 量具线性是在量具预期的工作范围内， 偏差的差值。 过程变差 对于所有的过程输出，都有两个主要统计： 对中性 指由过程的平均值至最近的规格限的距离 变差（波动） 指过程的分布宽度 过程变差 过程的变差分两个类型 特殊原因造成的变差 普通原因造成的变差 过程变差 普通原因变差 影响过程中每一个单位 在控制图上表现为随机性 没有明确的图案 但遵循一个分布 是由所有不可分派的小变差源组成 通常需要采取系统措施来减少 过程变差 特殊原因变差 间断的、偶然的、通常是不可预测的和不稳定的变差 在控制图上表现为超出控制限的点或链或趋势 非随机的图案 是由可分派的变差源造成，该变差源可以纠正