经济型LED老化试验系统.pdf

QuotationJV July 9, 2012 经济型多功能LED 老化试验系统 Nanofoot LED-BI 系列老化试验系统专为LED 生产商制造，此系统为LED 老化和质量控制提供了一套高性价比的解决方案。系统可根据客户需求对 LED 老化时所需的 LED 夹具提供机械设计，还可提供 LED 光功率、光谱、电学参 数（驱动电流、电压）、工作温度等参数的控制与测量。 标准Nanofoot LED-BI 可一次性对 50 个 LED （封装、未封装）同时进行测试， 单个LED 的最大驱动电流可至1A，功率可达5W。 所采用独特的 LED 装载台、夹具和电流驱动探针可方便实现不同封装/ 结构类 型的单个 LED 的电流驱动，并保证互不影响。此外，当单个测试单元出现故 障时（短路、断路、光学失效）系统可提供电流过载保护机制防止驱动电流过 大损坏测试LED 。 系统特征： 1. 系统可同时老化50 颗LED,其它具体数量可按客户需求定制。 2. 可对LED 老化时的电流、电压、温度进行实时测量并输出测试报告 3 ．老化板上的LED 都采用单颗独立恒流驱动，每颗LED 在老化过程中不受其 他任何一种颜色、任何功率或半载、全载的影响，能够提供电流过载保护， 真正达到恒流驱动的效果； 4 ．老化板之间独立隔离调节，可装载不同类型的 LED 并由同一驱动电路驱动； 5 ．集成探针式点亮夹具，可对不同形状的 LED 进行方便点亮可老化带铝基板 的大功率LED 和不带铝基板的大功率LED 6 ．可提供恒流和脉冲两种老化驱动模式 7 ．可设置老化时间和驱动电流大小，老化时间结束后可自动关闭。 8．长时间老化过程中，机柜中仪器会自动开启风扇以保证主机安全，使得老化 主机不受温度影响。 技术参数 电流输出 1-1000 mA/路 功率 0-5W/路 电流分辨率 20 uA 电流精度 占空比 定时时间 适用环境 1/4 LED Burn-In Tester ttionJV Quota July 9, 22012 温度度精度 信噪噪比 Syystem SSpecificaations 系统描述述 LEDD-BI 系统介介绍 LEDD-BI 老化系统可同时时实时测试 50 以上个个 LED ，可可通过控制软软件控制 LLED （封封装/未封装装）驱动电流探针控制制卡。通过过软件设置对对单 LED 提供电流驱驱动， 同时时将监测到的LED 的的工作电压、、温度、和和输出光功率率至主机控控制显示界面面。 通过过垂直自动电位移系统统，LED-BI 老化系统统可复用光功功率测试设设备—积分球球， 并通通过可外接接分光光度计计 （spectroometer ）或或光谱仪（OOSA ）对 LLED 的输出出光 谱进进行实时测量。控制PPC 机采用 EtherCATT I/O 数据传传输协议与与LED-BI 系系统 相连连接，并实实现控制。